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CCD成像高精度孔径检测技术的应用的研究 　　[摘要]主要讨论的基于CCD成像的高精度孔径检测技术，描述主要涉及思路与电路设计。 　　[关键词]CCD 孔径检测 高精度 桥梁监控 在线监测 　　中图分类号：O43 文献标识码：A 文章编号：1671－7597（2008）1120131－01 　　 　　一、光学装置设计 　　 　　由于CCD是一种高灵敏度光电元件，所以外界对系统非常小的扰动都会影响测量结果。这就要求光学系统必须十分精确，在进行光学系统设计时不断优化，使其达到最好效果。 　　基于远程位移的特点，在对光学系统进行优化设计时，应主要考虑整个光路系统和CCD器件的共轴(即准直)问题。通过精确地测量CCD、镜头及光源轴向确定光学系统尺寸，使光学系统轴向一致，并垂直于CCD光敏面，使得待测目标的位移方向与线阵CCD光敏元的排列方向均一致，从而组成一个共轴系统，同时也解决了检测系统的光路准直问题。 　　CCD有效象元长度为30.2mm，对应的视场为156mm，放大倍率约为1：5。在整个检测系统测量精度高低的确定上，光学系统放大倍率与线阵CCD光敏单元尺寸共同决定了测量精度的高低。为了提高精度，可以提高光学系统的放大倍率β。在物距一定时，可以通过提高物镜的焦距来提高测量精度，但物镜焦距的提高毕竟是有限的，而且焦距越大，物镜的造价也越高，因此可以在电路处理部分使用更高频率的时钟脉冲进行采样，将CCD测量的精度值提高近一个数量级。因此，基于CCD的远程位移自动在线检测系统并不但在光学系统设计上进行了优化，还在硬件上采用了具有流水线结构的高速LPC2132芯片，增加了数据采集的速度，实现了实时高频率数据采集。 　　 　　二、硬件电路设计 　　 　　ARM7TDMI（-S）处理器是目前应用比较广泛的32位高性能嵌入式RISC处理器，而LPC2132正是在此基础上设计的。 　　ARM7TDMI（-S）使用流水线以提高处理器指令的流动速度。流水线允许几个操作同时进行，以及处理系统和存储系统同时操作。ARM7TDMI（-S）使用3级流水线，指令的执行分为3个阶段：取指、译码和执行。 　　当正常操作时，在执行一条指令期间，其后继的一个指令译码，且第三条指令从存储器中取指。程序计数器指向正在取指的指令而不是正在执行的指令。正在执行的指令使用程序计数器。PC值总是当前地址的2条指令之前的地址。 　　LPC2132有两个复位源：STR引脚和看门狗复位。STR引脚为施密特触发输入引脚，带有一个额外干扰滤波器。任何复位源提供的芯片复位都会自动唤醒定时器，只有当外部复位撤除后，振荡器才开始运行。当计数到达一个固定的时钟时，Flash控制器完成初始化。复位干扰滤波器使处理器可以忽略非常短的外部复位脉冲。STR保证芯片复位所必须的最短时间。当内部复位撤消时，处理器从地址0开始运行，此处为复位向量。此时所有的处理器和外部设备存储器都恢复默认状态。外部复位和内部复位有一个小区别。外部复位时特定引脚的值被锁存以实现配置。芯片复位可以发生在Flash编程或檫除操作中。Flash存储器会中断正在进行的操作并使CPU复位延迟到内部Flash高电压降低后才完成。 　　 　　三、线阵CCD的工作原理及其驱动的实现 　　 　　（一）工作原理 　　CCD是Charge Couple Device的简称，是由一系列相邻的MOS(金属氧化物半导体)存储单元构成。其工作原理是：光敏元在受到外界光照射时可以产生电荷，此电荷被存储在MOS存储单元中，而产生的电荷的多少与光的强度和照射时间成正比。在一定时序的外加电压驱动下，CCD中存储的电荷可以一个接一个地顺序移出，这样，CCD的输出端就产生了与存储电荷成正比的输出电压。 　　CCD主要用于图像的记录、存储等方面。CCD由于精度高、分辨率高、性能稳定、功耗低、寿命长等特点，广泛应用于尺寸的非接触式检测、控制和分类，产品表面质量评定、自动化及机器人视觉中的精确定位，以及光谱分析等。 　　在CCD应用技术中，其赖以正常工作的驱动信号的产生电路比较复杂，驱动电路的设计也就成为其应用中的关键问题之一。由于不同厂家生产的CCD其驱动时序不尽相同，而同一厂家的不同型号的CCD其驱动时序也不完全一样，使CCD的驱动电路很难规范化、产品化。因此，许多CCD用户必须面对驱动电路的设计问题。 　　CCD时序脉冲信号是一组周期性的、关系比较复杂的脉冲信号，它是影响CCD器件的信号处理能力、转移效率、信噪比等性能的一个重要因素。线阵CCD驱动电路通常有4种方式实现：EPROM驱动法(或E2PROM)、IC驱动法、单片机驱动法以及可编程逻辑器件(PLD)驱动法。在此系统中使用了单片机驱动法。 　　（二）CCD驱动脉