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由薄膜干涉浅述透镜增透膜增透 　　摘 要：在现代光学装置中，由于都是由许多光学元件──透镜、棱镜等组成的，透镜片数越多，透镜表面的反射作用就越强而光能损失就越多，为了减少透镜表面的反射损失，常在光学元件表面镀层透明介质薄膜，这种薄膜就叫增透膜。本文通过分析薄膜干涉指出增透膜增加透射是利用了薄膜等倾干涉的反射光线干涉相消原理。指出增透是利用减少反射光的能量损来增失强透过光的能量，从而实现增透的作用。同时对增透膜的研究和应用现状作了介绍。 　　关键词：增透膜；干涉；增透膜材料；镀膜技术 　　中图分类号：G652 文献标识码：A 　　文章编号：1009-0118（2012）08-0021-02 　　一、光程及相差 　　光在媒质中传播时，光振动的相位沿传播方向逐点落后，以λ表示光在媒质中的波长，则通过路程r时，光振动相位落后的值为：Δφ=2πrλ 　　同一频率的光在不同媒质中传播时的波长不同，以λ0光在真空中的波长，以n表示媒质的折射率，则有：λ=λ0n 　　将此关系代入上式中，可得：Δφ=2πnrλ0 　　此式右侧表示光在真空中传播路程nr时所引起的相位落后。由此可知，同一频率的光在折射率为n的媒质中通过r时引起的相位落后和在真空中通过nr的距离时引起的相位落后相同。这时nr就叫做与路程r相应的光程。这样的好处是可以统一用光在真空中波长来计算光的相位变化。相位和相位差的关系是： 　　相位=2π*光程差λ0 　　二、薄膜干涉 　　（一）等厚干涉 　　平常看到的油膜或肥皂液膜在白光照射下产生的彩色花纹就是薄膜干涉的结果。薄膜干涉之一是等厚干涉。 　　图1 　　如图1所示的装置是一种薄膜干涉装置，产生干涉的部件是一个放在空气中的劈尖形状的介质薄片或膜，简称劈尖。它的折射率是n，两个表面是平面，其间有一个很小的夹角θ。实验时使平行的单色光近于垂直地入射到劈尖面上。分析劈尖面上A点入射的光线，此光线到达A点时，光线的一部分被反射，成为反射光线1，另一部分则折射入介质内部，成为光线2，它到达介质下表面时又被反射，然后再通过上表面透射出来（实际上，由于θ角很小，入射光，透射光和反射光线都几乎重合）。因为反射光线1和光线2是同一入射光线，所以它们一定是相干光。 　　从劈尖上，下表面反射的光在上边面附近相遇，发生干涉现象，因此在劈尖表面会看到干涉条纹，以e表示在入射点A处劈尖的厚度，则两束相干的反射光在相遇时的光程差为：δ=2ne+λ2 　　此式前项是由于光线2在劈尖中经过2e的几何路程引起的，后项λ/2则是来自反射本身（由于劈尖相对于空气是光密介质，在劈尖的上表面反射时有半波损失，下表面反射时没有，所以反射时的差别就引起了附加的光程差λ/2）。由于劈尖各处的厚度不同，所以光程差也不同，因而会产生干涉相长或相消。干涉相长产生明条纹的条件是：2ne+λ2=kλ k=1，2，3…… 　　相消干涉产生暗条纹的条件是：2ne+λ2=（2k+1）λ2 k=0，1，2，3…… 　　上两式表明，每级明或暗条纹都与一定的膜厚度e相对应。因此在介质膜上表面的同一条等厚线上，都形成同一级次的一条干涉条纹。这厚线是一些平行于棱边的直线，所以等厚条纹是一些与棱边平行的明暗相间的直条纹。在工程中，常用这一原理检验工件的平整度。 　　（二）等倾干涉 　　图2 　　如图2所示使一条光线斜入射到厚度为e的均匀平膜上，它在A点处也分成反射和折射两部分光，折射的光在下表面反射后又从上表面射出。由于这样形成的两条相干光线是平行的，所以它们只能在无穷远处相交而发生干涉。在实验室中为了在有限远处观察干涉条纹，就使这两部分光线射到一个凸透镜上，经过透镜会聚，它们将相交于平面FF’上一点P而在此处发生干涉。下面分析光线1和光线2到达P点的光程差。 　　从折射光线AB反射后的射出点C做光线1的垂线CD。由于从C和D到P点的光线2和光线2的光程相等（透镜不附加光程差），所以它们的光程差就是ABC和AD两条光程的差。由图可求的这一光程差为：δ=nAB+BC－AD+λ2 　　式中λ/2是半波损失附加的光程差。 　　由于 AB=BC=e/cosr,AD=AD*sini=2e*tanr*sini 　　利用折射定律知 sini=n*sinr 　　所以 　　δ=2n*AB－AD+λ2=2necosr－2e*tanr*sini+λ2 　　可得 δ=2ne*cosr+λ2或δ=2n*n2－sin2i+λ2 　　此式表明，光程差决定于倾角(i)，凡以相同倾角入射到厚度均匀的平膜上的光线，经上下表面反射后产生的相干光束有相等的光程差，因而它们干涉相长或相消的情况一样。因此，这样形成的干涉条纹称为等倾条纹。 　　干涉相长的条件是：δ=2n*n2－sin2i+λ2=kλ,k=1,2,3… 　　干涉相消的条件是：δ=2n