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第九章微机化仪表系统设计 用数字技术代替模拟技术软件算法替代硬件功能网络通讯功能自诊断能力适应范围广第九章微机化仪表系统设计 9.1 基本结构9.2 采样技术9.3 信号放大9.4 A/D转换9.5 D/A转换9.6 抗干扰技术信号处理信号处理信号处理信号处理9.1 基本结构 多路开关微机显示系统采样保持放大A/D键盘系统增益控制输出系统C2C11/2R11/2R29.2 采样技术—串扰误差1/2R1K1 R3C1Vs1U0C3K21/2R2Vs29.2 采样技术—串扰误差 Vs1Vs2(m+1)TmT(m+1)T+hmT+h9.2 采样技术—串扰误差任何一次采样中采样信号包含上个通道的信息，叫串扰误差。串扰误差同T-h有关，即同系统采样速度有关增加C1会使误差下降，即设计输入滤波器时选择大的C和小的R可用短路开关法减小串扰误差 C11/2R19.2 采样技术—连续采样误差 1/2R1R3C1VsU0C3K9.2 采样技术—连续采样误差 连续采样指对同一输入按一定周期间隔进行采样输入滤波电容C大或采样周期长会使误差下降9.2 采样技术—孔径时间误差 u△ut△t9.2 采样技术—孔径时间误差 对于二进制系统，n位，则最大分辨能力为为满量程允许信号的最大变化率9.2 采样技术—孔径时间误差用正弦波表达 则最大变化率在 处9.2 采样技术—孔径时间误差 能采样的最大频率9.3 信号放大—可变增益放大器 -+占空比控制8.4.3 信号放大—可变增益放大器 8.4.3 信号放大—可变增益放大器 放大倍数：9.3 信号放大—仪用放大器 +--+-+9.3 信号放大—时间比例型放大器 双积分型或V/F型+A/D-使用条件：模拟开关AD转换时间8253单稳占空比9.4 A/D转换器逐次比较型AD574双积分型ICL7109，MC1443V/F型LM331 AD652 AD537 VFC32△ -∑型ADS123224位AD转换器 9.4 A/D转换器—ADS1232 9.4 A/D转换器—过采样技术 9.4 A/D转换器—过采样技术 对ADC测量数据求均值等价于一个降采样低通滤波器实现过采样和低通滤波器的数字信号处理过程通常被称为插补从这个意义上说,用过采样实现两个ADC码之间的插值求均值的样本数量越大,则低通滤波器的选择性越强插值的效果就越好 9.4 A/D转换器—过采样技术 每增加一位分辨率信号必须被以4倍的速率过采样 其中:w 是所希望增加的分辨率位数 fs是初始采样频率要求 fos是过采样频率 8.4.4 A/D转换器—过采样技术条件 噪声必须逼近白噪声在整个有用频带内具有平均分布的功率谱密度 噪声幅度必须足够大能引起输入信号样本之间的随机变化变化幅度至少为两个相邻代码之间的距离即1 LSB输入信号可以用一个在两个相邻ADC代码之间具有等概率分布的随机变量表示 过采样和求均值不能补偿ADC的积分非线性误差8.4.4 A/D转换器—过采样技术 9.4 A/D转换器—过采样技术 void ADC_isr (void) interrupt 0 //AD转换结束中断服务函数{ static unsigned int_dec = 256; // 累加/抽取计数器 static long accumulator = 0L; // 用该变量累加ADC样本 accumulator += ADC_VALUE; // 读ADC值并加到运行总和变量 int_dec--; // 更新抽取计数器 if (int_dec == 0) { // 如果为0则执行抽取 int_dec = 256; // 复位计数器 result = accumulator 4; // 用移位执行除法操作 accumulator = 0L; // 累加器清0 } } 9.5 D/A转换器—PWM发生器 5VclockG0CLK0PWM输出8253OUT1CLK1OUT0 G1定时器0 方式4或5定时器1 方式19.5 D/A转换器—电流转换器 -++-9.5 D/A转换器—电流转换器 9.6 抗干扰设计--硬件抗干扰 形成干扰的基本要素： （1）干扰源。 指产生干扰的元件、设备或信号， 用数学语言描述如下：du/dt， di/dt大的地方就是干扰源。如：雷电、继电器、可控硅、电机、高频时钟等都可能成为干扰源。 （2）传播路径。 指干扰从干扰源传播到敏感器件的通路或媒介。典型的干扰传播路径是通过导线的传导和空间的辐射。 （3）敏感器件。 指容易被干扰的对象。如：A/D、 D/A变换器，单片机，数字IC，弱信号放大器等。 9.6 抗干扰设计--硬件抗干扰 常用硬件抗干扰技术 针对形成干扰的三要素，采取的抗干