线束测试仪硬件电路设计参考..docVIP

第 PAGE 2 页 共 SECTIONPAGES \* Arabic \* MERGEFORMAT 17 页 第 PAGE 1 页 共 SECTIONPAGES \* Arabic \* MERGEFORMAT 18 页审核日期： 审核日期： 电路设计 测试仪按照内部实现的功能原理可分为5个单元，包括主控CPU及外围电路单元、CAN通信接口单元、测试激励单元、测试通道切换单元、测量单元，如下图： 测试仪电路结构图 如图中线框内所示为测试仪结构，CAN总线可连接上位机与测试仪通信，外部的电缆网络上标准的电缆接口通过1.2米长的转接线缆与测试仪接口的针点一一对应。转接线缆将测试仪接口的针点一一对应到标准线缆接口，外部电缆网络线缆由此接入。 测试仪各结构单元细分功能如下： 主控CPU系统单元 该单元是线缆测试仪的核心，主要完成各项功能测试、过程控制、测试数据采集处理及存储、与上位机通信并上传测试数据等。 CAN通信接口单元 该单元实现CAN总线数据收发功能。 测试激励单元 该单元提供各项功能测试的激励，包括9V及以下低压激励源、20VDC-2000VDC激励源、交流100~800VAC、低压交流等激励源。 测试通道切换单元 该单元负责将需要测试的线缆通道接入测试回路。 测量电路单元 该单元主要负责实现电压信号的获取、调理、AD采样等，包括导通、绝缘、耐压和电容几种测试电路，主控CPU根据当前的测试模式将相应的测试电路接入测试回路。 主控单元 主控单元以TI公司DSP TMS320F2812为主控芯片，当接收到来自上位机的各种测试命令和数据后，开启相应的测试项目，负责完成测试电路的过程控制、测试数据的采集、处理、分析、存储、上传等功能。其最小系统主要包括供电电路设计、时钟电路、复位电路、存储电路、FPGA电路、以及其它一些功能电路等。 本方案所选主系统控制芯片为TMS320F2812，它是TI(Texas Instruments)推出的一款面向工业控制应用的高性能定点数字信号处理器。TMS320F2812基于高性能的32位CPU，主频最高可达150MHZ，除了具备强大的运算能力外，片内还继承了丰富的外设模块，便于构成高性能的工业测控系统。TMS320F281x除了具有其他DSP芯片所具有的的强大运算能力和实时响应能力外，片内还集成了大容量的Flash存储器和高速RAM，并提供了许多实用与控制系统的片内外设和接口，如A/D转换模块、串行外设几颗接口SPI和SCI、增强型控制局域网接口等。 TMS320F2812最小系统 本方案采用的扩展控制芯片主要为EP2C5T144C8，用于对负责通道切换的继电器进行逻辑控制。它是Altera公司推出的CycloneⅡ FPGA。Cyclone Ⅱ 芯片制造使用90nm工艺，1.2v内核供电，属于低成本FPGA，Cyclone II FPGA的成本比第一代Cyclone器件低30%，逻辑容量大了三倍多，可满足应用需求。 扩展控制原理图 CAN通讯接口单元 本系统采用的主控芯片支持增强型CAN(eCAN)通信，其接口与CAN2.0B标准接口完全兼容。 eCAN总线模块功能框图 eCAN通信缩短了通信时间，减少了通信时DSP资源开销，误码率低，能很好的解决与上位机的通信问题。另外DSP的CAN总线模块作为总线结点，还需要在模块处理器和和总线间增加电平转换和隔离电路，以确保正确的CAN通信数据收发。 CAN接口电路原理图如下 ： CAN通讯接口图 测试激励单元 激励源设计主要包括导通测试激励源、低压绝缘测试激励源、电容测试激励源、20VDC-2000VDC绝缘测试激励源以及100~800VAC交流耐压测试激励源。其中，导通测试激励源和低压绝缘测试激励源使用＜9V的低压三端线性稳压器完成；电容测试激励源由FPGA模块产生一定频率的正弦波（如400HZ）再经过电压跟随器提高驱动能力后提供。20VDC-2000VDC、100~800VAC 50~60HZ，采用程控电源设计。 20VDC-2000VDC程控电源 电源模块通过采购市面成熟的工业级引线式高压电源模块，其主要的性能指标如下： 输入电压12VDC/24VDC 输出高达2000VDC 电压稳定度≤0.1% 负载稳定度≤0.5% 时漂/小时≤0.05% 温漂/℃≤0.05% 其对输出电压的控制有一个控制端，如控制端输入0-5V对应输出20VDC-2000VDC电压。为避免电压突变带来的电磁干扰和对电子元器件可靠性的破坏，增加防浪涌的RC吸收电路并对电压的上升过程采取适当的步进控制。为进一步提高电源模块的输出精确度，系统对模块进行二次开发，对系统输出电压做监控并实时调整。模块自身带有限流式保护设计，确保使用过程中的安全。可以满足系统需求。 1