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基于IEEE Std 1500的SoC存储器测试技术研究-检测技术与自动化装置专业论文
独创性(或创新性)声明
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本学位论文属于保密在 年解密后适用本授权书。 本人签名: 日期:
导师签名: 日期:
摘 要
摘 要
存储器的可靠性测试是 SoC 设计中十分重要的问题。本文结合 IEEE Std 1500 以 及内建自测试的相关理论,给出并验证了一种进行 SoC 存储器的测试方法。该方法 可以实现 SoC 存储器测试结构的复用并完成 SoC 存储器故障测试。
本文对 SoC 存储器基本理论进行了深入的分析,并重点研究了 IEEE Std 1500 的 测试结构和规范。结合测试标准,本文确定了 SoC 存储器测试壳的构架,设计了测 试壳中各组成模块,包括边界寄存器、旁路寄存器、控制接口和指令寄存器等组成单 元。根据选取存储器的测试算法,本文设计了相应的指令格式并完成编码工作。利用 存储器的内建自测试方法,本文设计了相应的存储器测试控制器。测试控制器负责测 试指令输入、测试激励的生成、测试响应的收集以及测试结果的判断和输出等功能。 测试壳与测试控制器共同组成了整个系统,完成故障检测工作。
以 32×8 的 SRAM 做为 SoC 存储器的测试对象,对设计内容的进行功能验证。 本文采用 EDA 工具和硬件描述语言 Verilog HDL 对各个模块进行功能设计及仿真的 验证工作。通过对仿真波形的分析,结果表明测试控制器与测试壳中各模块达到了预 期的设计要求。在 IEEE Std 1500 标准下构建的 SoC 存储器测试系统具有正确性和可 行性,能够准确的诊断出测试对象存在的故障。研究工作对于嵌入式存储器在 SoC 中的设计、集成以及测试复用具有重要的意义,同时具有较好的应用前景。
关键词:SoC 存储器;IEEE Std 1500;测试壳;控制器
- I -
摘 要
Abstract
The reliability of SoC memory is very important to the design of SoC. Based on the IEEE Std 1500 and BIST, the paper presented a method for the testing of the SoC memory. It can make the SoC memory test become more convenient, and achieve the SoC memory test reuse.
The paper maked a deep analysis on the basic theories of SoC memory. Meanwhile, the paper determined the whole wrapper structure after study testing structure and specification of the IEEE Std 1500. The wrapper is composed of boundary register, bypass register, interface port and instructions register, etc. According to the choosed test algorithm, the corresponding instruction format and instruction encoding were designed. Used the BIST for memory test, the paper designed a corresponding test controller. The
test controller is responsible to input test instruc
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