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低温GaN成核层MOCVD生长工艺对GaN外延薄膜影响的研究-材料科学与工程专业论文.pdf
声尸
声尸 明明
本人郑重声明:所呈交的学位论文,是本人在指导教师的指 导下,独立进行研究所取得的成果。除文中已经注明引用的内容 外,本论文不包含其他个人或集体已经发表或撰写过的科研成果。 对本文的研究做出贡献的个人和集体,均已在文中以明确方式标 明。本声明的法律责任由本人承担。
论文作者签名:场\武二奂 日期:矽/莎矿/.口矿
关于学位论文使用权的说明
本人完全了解太原理工大学有关保管、使用学位论文的规定, 其中包括:①学校有权保管、并向有关部门送交论文的原件与复 印;②学校可以采用影印、缩印或其它复制并保存学位论文;③ 学校可允许学位论文被查阅或借阅;④学校可以学术交流为目的, 复制赠送和交换学位论文;⑤学校可以公布学位论文的全部或部 分内容(保密学位论文在解密后遵守此规定)。
签 名:塌、久褒 日 期:矽7 5.口/.矿矿
导n币签名:搬饩 日 期: ≯{§.口/,护矿
万方数据
太原理工大学硕士研究生学位论文低温GaN成核层MOCVD生长工艺对GaN外延薄膜影响的研究
太原理工大学硕士研究生学位论文
低温GaN成核层MOCVD生长工艺对GaN外延薄膜影响的研究
摘要
III族氮化物半导体材料的研究和应用是目前半导体行业的热点。GaN 基半导体材料作为第三代半导体材料的代表,在高温、高频、微波、大功 率光电子等领域得到了很大的发展,大量的研究也证明以GaN等为代表的 宽禁带、直接带隙半导体材料仍有着广阔的发展空间和发展前景。然而由 于GaN熔点高,平衡蒸汽压很大,GaN材料的制备极为困难并且成本极高, 这也使得GaN的外延生长主要在异质衬底(如蓝宝石)上进行,但异质衬底
与GaN之间较大的晶格失配及热失配导致后续生长的GaN外延层具有很高 的位错密度(约为108-1010cm-2),晶体质量比较差。这些高密度的位错严重 影响了半导体材料的晶体质量和光电性能。为了提高GaN外延薄膜的生长 质量,本文从成核层的生长工艺入手,通过对成核层生长时的温度和氨气 流量两个工艺参数进行优化,提高了GaN外延薄膜的晶体质量,并对成核 层的生长机理和对上层非掺杂GaN外延薄膜的影响机制作了进一步的讨论, 其主要的研究成果如下:
首先,本文利用金属有机化学气相沉积(MOCVD)设备在蓝宝石衬底上 生长了具有不同成核层生长温度f分别为610。C、630。C、650。C、670。C和 690C)的五组GaN外延薄膜样品,并通过in.situ原位监测以及AFM、
HRXRD、PL和扎让L等表征手段进行检测。结合实验数据可知,成核层
的生长温度对GaN外延薄膜的晶体质量有着重大的影响。只有在适合的温
T
万方数据
太原理工大学硕士研究生学位论文度下,GaN成核层才会在退火后形成大小均一,密度适中的三维形核岛,
太原理工大学硕士研究生学位论文
度下,GaN成核层才会在退火后形成大小均一,密度适中的三维形核岛, 然后在后续的生长过程中顺利实现从3D生长模式向2D生长模式的转变, 最终得到高质量的GaN外延薄膜。在成核层生长温度为650。C时,得到最 为光滑致密的GaN外延薄膜,位错密度最低,光电性能最好,带边峰强度 最高,载流子浓度最低,载流子迁移率最高。
除温度外,本文还探究了氨气流量对低温GaN成核层生长过程的影响, 以及对后续高温非掺杂GaN外延薄膜晶体质量的影响。本实验仍用Aixtron 公司的MOCVD设备,采用两步生长法在蓝宝石衬底上制备了成核层生长 时氨气流量不同(分别为A样品400seem、B样品800seem、C样品1200seem、 D样品1600sccm、E样品2400sccm)的五组GaN外延薄膜样品。通过对实 验所得的样品进行HRXRD、PL、AFM和HALL等测试得知,成核层生长 时的氨气流量最优值为800sccm,此时样品刃型位错密度和螺型位错密度均
为最低,并且具有最好的光电性能。
关键词:氮化镓成核层,生长温度,氨气流量,位错密度,金属有机化学
气相沉积
II
万方数据
太原理工大学硕士研究生学位论文T髓INFLUENCE
太原理工大学硕士研究生学位论文
T髓INFLUENCE 0F GaN NUCLEATION
LAYER PROCES S ON GaN.BASED EPITAⅪAL
FILMS GROWN BY MOCVD
ABSTRACT
The research of group III nitride alloys and their application have become a very hot research fieldin the semiconductor industry,As a representative of the 恤rd generation of semiconductor
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