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点聚焦透镜天线分辨率的分析与测量
点聚焦透镜天线分辩率的分析与测量
点聚焦透镜天线分辨率的分析与测量
马平1,何昌伟2
(中国空气动力研究与发展中心超高速所,四川绵阳621
000;)
0054)
(电子科技大学应用物理研究所,四川成都61
摘要采用波动理论方法分析了平面电磁波经点聚焦透镜天线会聚后焦斑犬一1、和横向空闻分
辨率,得出了此类天线在会聚点的天线特性与某种平面口径天线在无穷远处的天线特性的关
系,提出了透镜天线分辨率的一种测量方法。通过实测,测量结果和理论较为吻合.
关键词点聚焦透镜天线:横向空间分辨率:焦斑
O前言
点聚焦透镜天线,一般指一馈源发射电磁波,经透镜后会集
为一点,如图1所示。通常点聚焦透镜天线收发对称布置,会聚
点在两透镜中间,两透镜的轴线在同一直线上。分析点聚焦透镜
天线,大都是采用几何光学方法。设透镜的焦距为f,物距为l,I,
像距为v,光源的大小为a,像的大小为b,则有以下公式: 图1点聚焦透镜天线示意图
上+三:土 (1)
” v f
护一.d (2)
“
如果a是点源,经过透镜后,将会聚成为理想点,即焦斑的大小为零。点聚焦透镜天线一般
在测量场合使用,人们充分利用其在会聚点处的电磁波能量集中的特性进行测量,焦斑大小
通常采用几何光学方法确定。但是,在微波和毫米波频段时,电磁波的波动性会对分辨率及
焦斑大小产生影响。本文采用波动理论方法研究了平面电磁波经透镜会聚后的焦斑特性。得
出了点聚焦透镜天线的横向空间分辨率计算公式及使用条件并给出了点聚焦透镜天线特性的
一种测量方法。
1点聚焦透镜天线的分辨率
点聚焦透镜天线系统由馈源和双透镜组成,两个透镜均
为单面透镜,两透镜的平面固定在一起,形成双透镜。这种 图2点聚焦透镜的几何关系
透镜的剖面如图2所示。
全国空气动力钡4控技术交流会论文集
假定馈源a为点源情况,则第一个二维单面透镜将球面波校正为平面波。第二个透镜又
将此平面波波前校正成球面波波前。透镜的曲率半径为R,其等相表面等效为均匀线源,则
R,=打面万弓汀币丽“R—yO (3)
R’Y,0为小角,J,为在会聚点处轴线的法线方向位移·
仅考虑相位的行为,则在Y处的电场:
㈤
鼢,=》r字(R-R/.)]dO=船华,:i:
其中0。为会聚点到透镜的张角,五为工作波长。
在会聚点的功率随Y的变化函数为:
2
0。y/A (5)
F(y)=【E(y)/E(o)】2=Isin(丌00y/A)/(rcl
由(5)式知,上述一个单面透镜在会聚点垂直平面上的横向空间分辨率:
z (6)
Y一3 o.88州Oo
如果换用对称布置的单面透镜组,则在会聚点垂直平面内的功率随Y的变化函数应为
G 2 (7)
J=Fry
ry
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