一种高调制度宽线性范围太赫兹电光取样技术.PDF

第 卷 增刊 光 子 学 报 　 　 　 Ｖｏｌ．４３Ｓｕ．１ ４３ ｐ 　 年 月 　　　　　　　　　　　　 Ｊｕｌ２０１４ ２０１４ ７ ＡＣＴＡＰＨＯＴＯＮＩＣＡＳＩＮＩＣＡ ｙ ： ／ 犱狅犻１０．３７８８ ｚｘｂ２０１４４３ｓ１．０１２３００５ ｇ 一种高调制度宽线性范围太赫兹电光取样技术 ， １ ２３ １ ２ ２ 陈红艺 ，史学舜 ，梁华伟 ，陈坤峰 ，吴斌 （ 深圳大学 电子科学与技术学院，广东 深圳 ） １ ５１８０６０ （ 电子测试技术重点实验室，山东 青岛 ） ２ ２６６５５５ （ 中国电子科技集团公司第四十一研究所，山东 青岛 ） ３ ２６６５５５ 摘 要：本文提出了一种新型的具有高调制度和宽线性范围的太赫兹电光取样装置 该设计采用与传统 ． 　 偏置电光取样装置类似的光路，将电光晶体的输出光一分为二，通过适当调整两组四分之一波片和 ４５° 检偏器的取向，就可以实现调制度的大幅提高 采用琼斯矩阵理论，对光在该电光取样装置中的传播行 ． 为进行详细的研究，给出了输出信号的解析表达式，为有效提高调制度提供理论依据 结果表明，在调制 ． 度大幅提高的情况下，这种新型电光取样装置能够保持传统 偏置电光取样装置的宽线性范围的 ４５° 优点． 关键词：太赫兹；电光取样；调制度；线性范围 中图分类号： 文献标识码： 文章编号： （ ） Ｏ４３６．４ Ａ １００４１０１２３００５４ 　　　 　　　 犜犲狉犪犺犲狉狋狕犈犾犲犮狋狉狅狅狋犻犮犛犪犿 犾犻狀 犜犲犮犺狀犻狌犲狑犻狋犺犎犻犺犕狅犱狌犾犪狋犻狅狀 狆 狆 犵 狇 犵 犇犲狋犺犪狀犱犠犻犱犲犔犻狀犲犪狉犚犪狀犲 狆 犵 ，