基于光反馈的线宽展宽因数测量算法的设计-信号与信息处理专业论文.docxVIP

摘要由于半导体激光具有方向集中、相干性好等特点，逐渐形成了以半导体激光 摘要 由于半导体激光具有方向集中、相干性好等特点，逐渐形成了以半导体激光 器为光源的光反馈自混合干涉测量技术。光反馈自混合干涉测量技术是利用含有 外部反射体运动信息和半导体激光器自身参数信息的自混合干涉信号进行测量 的技术，主要用于机械量、几何量及半导体激光器参数等的测量。 线宽展宽因数是表征半导体激光器一个重要参数，一方面决定了半导体激光 器的许多性能，例如谱线宽度、模式稳定等；另一方面在自混合干涉测量系统中， 线宽展宽因数是影响光反馈自混合干涉信号的一个重要参数，因此，线宽展宽因 数的测量对激光器应用系统具有重要的理论和实际意义。 本文利用两种不同的测量算法，测量了同一半导体激光器应用系统的线宽展 宽因数，并比对了测量结果，研究的主要内容有以下几个方面： 根据光反馈自混合干涉效应的理论模型，分析了系统参数对自混合干涉信号 的影响；研究了适度光反馈机制下光反馈自混合干涉信号的细分。 基于光反馈自混合干涉效应，论文研究了线宽展宽因数的两种测量算法：映 射点算法和特征点算法。映射点算法适用于适度光和强光反馈机制，算法模型复 杂，不易实现；特征点算法适用于适中光反馈机制，算法简单，测量系统易于实 现。 介绍了一种新的DSP建模工具SystemGenerator，在Matlab／Simulink环境下， 研究了特征点测量算法的设计及算法的硬件协仿真模块；对比了特征点算法的软 件仿真和硬件协仿真结果；并比对了两种测量算法的测量结果。 最后，对全文进行总结，并对该领域有待进一步研究探索的问题作了展望。 关键词：光反馈自混合干涉；线宽展宽因数；半导体激光器；系统模型 AbstractAbstract Abstract Abstract Because semiconductor laser has many characteristics，such as，concentrated direction and good coherence，an optical feedback self-mixing interferometry (OFSMI)measuring technique used of semiconductor laser as light has been gradually formed．OFSMI measurement technique is a measurement technology mainly using self-mixing interferometry signal including of external reflector moving information and semiconductor laser’S parameter information，which has been used in geometric quantities，mechanical quantities and semiconductor laser’S parameter measurement，etc． The line—width enhancement factor(LEF) is an important parameter of semiconductor lasers(SLs)．On the one hand，LEF characterizes many properties of semiconductor lasers such as spectrum line width，mode stability．On the other hand， it affects OFSMI signal．So the measurement of LEF to the laser application system has theoretical and practical significance． In the paper,LEF of the same semiconductor laser application system Was measured，and the measurement results were compared．The main tasks are as follows： The influence of system parameter on OFSMI signal is analyzed based on the OFSMI theoretical model．The Classifications of OFSMI signal under moderate feedback mechanism