自组装金团簇电极库仑台阶现象和电化学阻抗谱研究-Core.PDF

Vo l. 29 高 等 学 校 化 学 学 报 No. 2 2008年 2 月 　　　　　CHEM ICAL JOURNAL OF CH IN ESE UN IV ER SITIES　　　　　 　 350 ～355 　 自组装金团簇电极库仑台阶现象和 电化学阻抗谱研究 2 1 2 1 文 　莉 , 林仲华 , 翁少煌 , 周剑章 ( 1. 厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室 , 2. 化学化工学院化学系 , 厦门 36 1005) ( ) 摘要 　采用示差脉冲伏安法研究了自组装单层保护金纳米团簇 C A uM PC 在常温下二氯甲烷溶液中的量子 8 化电容充电效应. 研究结果表明 , 该团簇在 - 08～08 V 电位范围内有 4 对明显的量子化电容充电峰. 同时 采用电化学阻抗谱对 C A uM PC修饰金电极体系的界面结构进行了表征 , 研究结果表明 , M PC 自组装层存在 8 ( 两个界面 , 即金电极 M PC层界面和 M PC层 溶液界面 ; 这两个界面的界面电容在 M PC 的零电荷电位 ca. - 02 V ) 附近均基本保持不变 , 随着电位正移或负移到一定程度 , 界面电容发生变化. 进一步利用双隧道结 金属岛库仑阻塞效应理论讨论了已有报道中对 M PC量子化电容充电的理论分析结果 , 并证明电化学阻抗谱 也是研究 M PC量子化电容充电效应的有效方法. 另外 , 用示差脉冲伏安法及循环伏安法研究了电活性物种 二茂铁对 C A uM PC量子化电容充电的影响 , 发现溶液中的电活性物种对 M PC层 溶液界面的电子传递的贡 8 献可以忽略 , 表明该界面的电子传递主要发生在纳米粒子之间. 关键词 　自组装金纳米粒子 ; 量子化电容充电; 电化学阻抗谱 ; 界面结构 中图分类号 　O64711 　　　　文献标识码 　A 　　　　文章编号 (2008) ( ) 单层保护团簇 Mono layer Protected C lu sters, M PC 是指在纳米粒子表层修饰或组装一层单分子层 形成具有特殊功能的纳米结构. 由于这些单层保护的纳米粒子本身所具有的独特的电子和电学性质 , 特别是量子化电容充电性质 , 使得这些纳米粒子在新型纳米电子器件和纳米电路的发展中具有很大的 应用潜力 [ 1～5 ] . M u rray和 Chen等 [ 6, 7 ]研究了 M PC在溶液中的量子化充电性质. 近年来 , 自组装二维有 ( ) [ 4 ]