二极管阵列检测器波长校准方法研究及评价-中国测试.PDF

第 44 卷 第 7 期 中国测试 Vol.44   No.7 2018 年 7 月 CHINA MEASUREMENT  TEST July, 2018   doi: 10.11857/j.issn.1674-5124.2018.07.004 二极管阵列检测器波长校准方法研究及评价 1 2 2 1,2 1 1 2 杨三东 ， 艾   利 ， 封   娇 ， 唐   涛 ， 王风云 ， 郝青丽 ， 李   彤 (1. 南京理工大学，江苏 南京 210094; 2. 大连依利特分析仪器有限公司，辽宁 大连 116023) 摘　要: 波长校准是二极管阵列检测器研制过程中一个重要的环节，可直接影响到光谱定性定量的准确度。利用原 位光源——氘灯的特征光谱结合氧化钬玻璃的透过光谱对二极管阵列检测器进行波长校准，比较波长标准值的取值 方式以及校准方程的拟合方式对校准结果的影响，并使用偏差平均值、偏差标准差、均方根误差对校准结果进行评 价。结果表明，多点高次函数拟合的校准结果更准确，其中多点三次函数校准结果的偏差平均值、偏差标准差、均方 –3 根误差分别是–2.97×10  nm、0.47 nm、0.44 nm。对自制光电二极管阵列检测器进行波长校准，波长误差在±1 nm 以内。 关键词: 光谱; 波长校准方法; 原位光源; 二极管阵列检测器 中图分类号：TB232.4                         文献标志码: A                     文章编号: 1674–5124(2018)07–0019–06 Research and evaluation of wavelength calibration methods for the photodiode array detector 1 2 2 1,2 1 1 2 YANG Sandong ,   AMANI Alireza,   FENG Jiao,   TANG Tao ,   WANG Fengyun,   HAO Qingli,   LI Tong (1. Nanjing University of Science and Technology, Nanjing 210094, China; 2. Dalian Elite Analytical Instruments Co., Ltd., Dalian 116023, China) Abstract: Wavelength calibration is an important process in developing photodiode array detectors, which directly influence the accuracy of spectru