基于SR332的电子设备失效率灵敏度分析.docx

基于SR-332的电子设备失效率灵敏度 分析 MB 重庆邮电大学 摘要： SR-332手册是国际上应用较为广泛的电子设备可靠性预计商用标准。本文基于 SR-332手册给出的元器件失效率预计模型，对影响元器件及电子设备失效率的 主要因素进行分析，推导出元器件的电应力因子和温度应力因子分别对电应力 水平和周围环境温度的灵敏度模型以及电子设备整机失效率对这两个影响因素 的灵敏度模型，并基于推导岀的模型开展灵敏度分析。 关键词： 电子设备;失效率;灵敏度;元器件应力法; 作者简介：纪静（198广），女，安徽宿州人;重庆邮电大学讲师，博士;研究方 向：电能计量装置可靠性评估、电力系统规划 基金：重庆邮电人学科研基金（博士启动基金）项目（编号:A2015-32）研究成 果 随着电子技术的迅速发展，人们对电子设备的可靠性提出了更高的要求。一个具 有先进技术和众多功能的电子设备，如果其故障率较高或者寿命较短，终究不 会被人们接受而广泛应用。因此，电子设备不仅要满足说明书上标明的各项技术 指标，同时要具有较高的可靠性水平。 目前国内外专家提出的可靠性预计方法众多。SR-332是从贝尔通信研究屮心发 展起来用于评估电子设备可靠性的预计手册，是目前最通用的商用电子产甜 MTTF预计的权威性行业标准，可准确地反映电子设备的失效率水平;SN29500提 供了时常更新的参考条件下的失效率数据库，元器件类别全面，提供了元器件 计数法和元器件应力法两种预计方法。国内通常应用的军用标准是国军标GJB/Z 299C,其涵盖元器件类别全面，同样提供了两种预计方法，但由于军标制定较 严格，预计商用电子产品时失效率偏高。 本文基于SR-332给岀的元器件失效率预计模型，结合元器件应力法，分析影响 元器件失效率的主要因素，并推导出元器件及电子设备的失效率对周围环境温 度和电应力水平的灵敏度模型。 一、元器件失效率预计模型 （-）元器件失效率预计模型 o SR-332给出了所有类型元器件统一的工作失效率预计模型: 中；O式得子入胡为工作失效率；入G为通用稳态失效率，可根据元器件类型查手册获E为环境应力因子；g 中；O式得子 （-）环境应力因子。 现场使用环境不同，环境应力因子g不同o SR-332给出了不同现场使用环境下 的环境应力因子:地面，固定，可控的（GJ :1.0;地面，固定，不可控的 （G1：） :2.0;地面，移动（包括车载和便携）（GJ :6.0;商务空运（Ac） :10;商务 空间（Sc） :15o （三）质量等级因子。 SR-332给出了质量等级因子jtq,如表1所示。由表可知，不同类型的元器件， 在同一质量等级下，其质量等级因子相同。 表1质量等级因子 下载原表 （四）电应力因子。 电应力因子g的计算模型为: 式屮，m为电应力曲线形状参数，与元器件类型相对应只为实际电应力比，是 实际电应力与额定参数的比值;P。为参考电应力比，取50%。如果有两种电应力 水平作用于元器件上，则电应力因子取两个因子的乘积。 SR-332给出了不同应力曲线对应的形状参数（曲线单 位:m） . A:0. 006;B:0. 009;C:0. 013;D:0.019;E:0. 024;F:0. 029;G:0. 035;H:0. 04 1; 1:0. 046; J:0. 059o 除了根据公式（2）计算之外，SR-332还给出了不同电应力水平下各应力曲线的 电应力因子近似参考值，如表2表示。 表2屯应力因子 下载原表 （五）温度应力因子。 温度应力因子兀T的计算模型为: 式中，Ea为活化能,是与元器件材料类型对应的常数;k=8.62X10c V/K,为玻尔 兹曼常数。T。二40+273二313K,为参考温度;为工作环境温度，指工作条件下元 器件上方0.5英寸处的温度。 除了根据公式（3）计算之外，SR-332也给出了不同环境温度下各应力曲线的温 度应力因子近似参考值，如表3所示。 （六）电子设备失效率预计模型。 假设电子设备的可靠性模型为串联关系，则电子设备的失效率为所有元器件失 效率之和，即： 式屮，入醐为第i类元器件的工作失效率;叫为第i类元器件的个数，入s为整个 电子设备的失效率，n为电子设备中元器件的类型总数。 表3温度应力因子 下载原表 二、元器件失效率的影响因素分析 （-）环境和质量的影响。 以电阻值小于200k Q的薄膜电阻为例，通过查手册，其基木失效率为25X10/h, 温度应力曲线为3,电应力曲线为B。为便于分析环境、质量、温度及电应力四 个主要因素对失效率的影响，初步假设电能表参数选取情况为:环境为“地面、 固定、可控”，质量等级为I级，环境温度为35°C,电应力水平为90%,则薄膜 电阻的失效率为： 当电能表现场使用环境为“地面、固定、不可控”时，