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浅议数字集成电路常见故障和原因 摘要：本文主要介绍了数字集成电路常见故障现象 及原因，通过故障现象的分析，对于正确、有效地判断故障 所在，提高技术维护水平具有重要意义。 关键词：数字IC芯片；软故障；硬故障；外部电路 数字集成电路现广泛应用于自动控制、信号处理、计算 机和广播电视设备等电子领域，检查数字集成电路故障，要 确认是数字集成电路本身故障，还是外围元器件故障，需从 各个方面来观察集成块工作状态是否正常，以便正确、有效 地判断故障的所在。数字IC芯片主要有TTL和CMOS两大类, 它们的故障现象各式各样，下面就各种数字IC芯片的故障 现象作一个归纳。 一.数字IC芯片的软故障 ?芯片的速度不好。一个芯片的执行速度是指一组 正确的输入经过芯片之后得到一组正确并且稳定的输出所 需要的时间。这个时间由几个部分组成：输入信号有效电平 (低电平或高电平)达到稳定并送入芯片所需要的时间；信 号在芯片内部通过逻辑变换，传输所需要的延时时间；输出 信号开始输出并达到稳定电平所用的时间。如果某个芯片的 门延时过长，产生的信号虽逻辑上正确，但较长时间后电平 仍不稳定，或者不满足时序要求，有所偏移，便会产生不稳 定性故障或随机故障。 .芯片的驱动有力差。一个普通的TTL芯片和TTL 芯片接口兼容的芯片均有其“扇出”约定，即一个芯片可直 接驱动的TTL芯片的个数。通常的TTL芯片的扇出值为8, 如