贵金属铑的化合物和铱的化合物中铑和铱及其共存杂质分析体系的分析-分析化学专业论文.docxVIP

摘要摘 摘要 摘 要 论文对铑的化合物和铱的化合物中主成分铑或铱，及其共存杂质的分析体系 进行了系统、细致、翔实的研究，旨在建立对主成分铑和铱以及其他微量共存杂 质离子进行直接测定的分析方法。 作者首先对近二十年来运用于铑的化合物、铱的化台物分析体系进行了全面 的文献调研。通过充分的文献调研，作者发现相关的分析领域主要存在如下三个 不足：f1】铑的化合物和铱的化合物高含量分析研究很少。【2】丰目关样品分析报道 较多，但全面的多离子共存分析体系研究几乎没有，尤其是体系内不同含量的各 成分之间干扰情况没有系统研究报告。【3】贵金属铑的化合物和铱化合物中铑或 铱作为常量主成分时部分常见微量杂质离子的检测没有报道，如Cd、Na、K、 Ca、Ba、Ru、Sb等。针对这些不足，作者提出了以ICP．AES法为主，FAAS为 辅助对照手段的分析方法对铑铱化合物中常量主成分铑或铱及其共存杂质进行 直接分析的研究方案。随后作者对ICP-AES系统的最新进展做了深入的文献调 研，对近二十年来该领域中的研究热点一ICP．AES中的基体效应，作者进行了一 定程度的总结和分析，作者对文献中基体效应的研究成果比较关注，引入了ICP 稳健度系数的概念和相关讨论，作者采纳了比较通用的判别标准：运用Mg的离 子原子谱线强度比(Mgll280．270／Mg I 285．213)是否大于8作为直接依据来判 断[CP中的基体效应是否显著，并将该判据应用到论文的每一步条件实验中。 在论文实验部分，作者认为选择最佳条件必须兼顾灵敏度和等离子体稳健状 态两个原则：首先应始终维持等离子体工作在稳健的状态下，然后选择寻找达到 各分析元素最佳灵敏度的条件。对于ICP—AES系统，作者重点考察了射频功率、 雾化气流速、辅助气流速、冷却气流速、观察高度以及蠕动泵进样速率等诸因子 对ICP稳健性以及各元素发射谱线灵敏度的影响。试验结果显示所有因子对发射 谱线灵敏度均有显著影响，但是不同的谱线影响程度不同，灵敏度高的谱线所受 髟响较大；其中唯有射频功率、雾化气流速和观察高度三个因子对ICP稳健程度 育显著影响，作者认为对于本文所使用的Perkin-Elmer Plasma 2000 ICP．AES，如 果要求确保电感耦合等离子体始终工作于稳健状态则射频功率不能低于1000w； 雾化气流速不能高于1 1L／mira观察高度不能大于7mm(如果功率提高，则观 察高度可以适当放宽要求)。在此基础上兼顾各分析元素发射谱线的灵敏度，综 合考虑以上各因素影响找到折衷条件：射频功率：1000w、雾化气流速：0．6L／rain、 辅助气流速：1．0L／rain、冷却气流速：15L／min、观察高度：2mm、蠕动泵进样 速率：1．0mLJmin。对FAAS系统重点考察了灯电流、狭缝宽度、燃烧器高度、 燃气，助燃气比例共四个主要因子，采用正交实验寻找到各分析元素的最佳分析 条件。介质影响部分重点考察四种常见酸介质：盐酸、硝酸、高氯酸、硫酸。结 果显示低浓度的盐酸、高氯酸介质最适宜ICP-AES和FAAS分析，而且始终维 持ICP工作于稳健状态。体系干扰部分(针对ICP．AES)分别考察了光谱干扰和 基体效应，对前者进行了较为深入且又弹性的研究，总结出了光谱干扰上限表： 随后对铑或铱的可能存在的基体效应做了严格考察，此外对ICP稳健性系数也进 行了验证，结果显示铑基体浓度不大于200．g／mL、铱基体浓度不大于40099／mL 时，等离子体工作于稳健的状态下，基体存在时的微量离子直接测定试验数据也 表明：基体对本论文设计的其他微量杂质离子没有显著影响。使用ICP-AES法 进行主成分需要克服系统非随机漂移(主要是功率漂移、雾化气流速漂移、观察 摘要高度漂移)的影响，作者采用外加内标法进行校正：分别选用Ga、In、T1、Sc、 摘要 高度漂移)的影响，作者采用外加内标法进行校正：分别选用Ga、In、T1、Sc、 Cr五个元素各自的多条原子线和离子线对铑或铱的多条原子线和离子线进行内 标校正寻优，最终找到进行主成分铑或铱分析的最佳分析线对：Sc 424．683nm和 Rh 249．077nm：In 325．069nm和Ir212 681nm。 本方法测定氯化铑中常量铑及19种杂质检出限为：0 0008．ttg／mL～0．1499／mL， 测定下限低于O．4799／mL；测定氯化铱中常量铱及19种杂质检出限为： O 0014p,g／mL～0 2199／mL，测定下限低于O．7099／mL。由于每个元素均选用多条 杰出线进行加标回收试验和精密度试验，结果显示两类基体中每个元素至少可以 找到两条分析线，使得该实验所得的加标回收率存95％～105％之间，相对标准偏 差在1．14％～5．01％。 本论文通过对铑的化