基于BDD和布尔差分的组合电路测试生成方法-计算机应用研究.PDF

第 25 卷第 5 期 计 算 机 应 用 研 究 Vol. 25 No. 5 2008 年 5 月 Application Research of Computers May 2008 * 基于 BDD 和布尔差分的组合电路测试生成方法 欧阳一鸣, 牟 屹, 梁华国 ( 合肥工业大学 计算机与信息学院, 合肥 230009) 摘 要: 引入布尔差分的思想, 对被测电路函数的 BDD 结构进行判断生成测试向量。本方案较传统的以图进 行搜索的 ATPG 方法有效地减少了时空开销, 并将布尔差分的理论方法应用于实际。实验表明, 本方案可以有 效地进行测试生成。 关键词: 二元决策图 ; 布尔差分 ; 自动测试向量生成 中图分类号: TP331 文献标志码: A 文章编号: 1001- 3695( 2008) 05- 1450- 03 Combinational circuit test generation method based on BDD and Boolean difference OUYANG Yi-ming, MOU Yi, LIANG Hua-guo ( School of Computer Information, Hefei University of Technology, Hefei 230009, China) Abstract: The method came from the notion of Boolean difference, it generated tests for CUT by judging the structure of cir- cuit function’s BDD. In comparison with traditional ATPG using diagram searching, the method could efficiently reduce time and space cost in operation and brought the academic Boolean difference into practice. The results of experiments show that the method is an effective way for test generation. Key words: binary decision diagram( BDD) ; Boolean difference; automatic test pattern generation( ATPG) f = x [ ( 1∧x )  x ] ∨x [ ( 0 ∧x )  x ] ( 1) 在数字系统的测试中, ATPG 是对测试电路产生测试向量 1 2 3 1 2 3 的过程[ 1] 。通常 ATPG 算法首先给电路插入一个故障; 然后通 对式( 1) , 将 x1 分别设置为 0 值和 1 值时, 在运算中就会 过在电路输入端激活这个故障, 并将其产生的响应通过电路传