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IBC 工艺流程
准备—— N 型 FZSi ,电阻率约为 2.5 Ωcm。制作前进行了双面抛光,并在
% 的 HF 酸溶液中浸泡,去除金属颗粒等杂质
B 掺杂——背面( BS )外延 B 掺杂,形成 P+,制作发射极
掩模 1——PECVD 沉积氮化硅,厚度约 200nm ,作为后道工艺的掩模
酸洗 1——利用去除未经曝光的光刻胶,漏出需要做 BSF 的区域,并且用
BHF (buffered hydro ?uoric )去除需要做 BSF 区域的氮化硅
刻蚀 1——利用 HF 和 HNO 3 去除 BSF 区域的 Emitter 。利用 Si 的各向异性
和氮化硅的各项同性差异可以在相同时间内做到 Si 和氮化硅的差异性刻
氮化硅悬臂,有助于
蚀 , Si 被 腐 蚀 的 速 度 大 于 氮 化 硅 , 从 而 做 出 氮 化 硅 悬 臂
0.5 μm
BSF 和 emitter 的隔离
P 掺杂——制作 BSF ,形成 N+。然后利用 BHF 溶液去除旧的氮化硅层( P
掺杂时被污染) ,在重新 PECVD 沉积氮化硅层
IBC 工艺流程
前表面 (FS )制绒(Texture )——在 TMAH (四甲基氢氧化铵) 和 IPA(异
丙胺)水溶液中利用 110 面的特性刻蚀出金字塔结构。
FSF 和退火——再此去除背面氮化硅层,并在 FS 进行 P 扩散,制作 FSF 。
然后在 850 ℃和氧气氛围中进行退火, 以激活 FS 和 BS 注入的离子。 此时,
在 FS 和 BS 形成了 10-35nm 厚的 SiO2 层,作为 ARC 的第一层。
第二层 ARC ——根据 SiO 2 的厚度, 在 FS 沉积 70-45nm 厚的氮化硅层, 形
成双层 ARC ,并且起到 FS 的钝化作用(中和悬挂氢键) 。同时在 BS 沉积
100nm 厚氮化硅层,以增强背面内反射,同时达到背钝化的目的。
背接触电极——在整个 BS 热蒸发工艺沉积约 2μm 厚 Al。
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分离制作电极——利用特定工艺去除除 BSF 接触区和 Emitter 区的 Al 层,
形成交叉指状正负电极。
IBC 工艺流程
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