光度学与色度学基础.PPT

11.5.2 辐射仪的辐射标定 修正后的黑体温度为 修正后的黑体温度TBBR和实际黑体辐射特性之间的关系可由实测得到。由于标定黑体并非理想黑体，其辐射特性与普朗克公式稍有偏差，故修正后黑体温度与其辐亮度之间可用一关系式表示如下： 式中，εi(i=0~3)为系数，可由TBBR与对应的实测黑体辐亮度LBB关系求得。 扫描镜对着黑体时测得的仪器输出电压信号VBB与对着冷空间(用模拟器)产生的负值电压信号Voff 所确定的连线斜率(如图11-48)为 图11-48 黑体、冷空间定标曲线 由定标斜线, 可将仪器扫描地景时产生的电压信号V转换成景物的辐亮度L，且 最后修正电路非线性的影响，将辐亮度L修正成仪器入瞳处地景的辐亮度Lq 式中，bi(i=0~2)为非线性关系的系数。 11.5.2 辐射仪的辐射标定 第十一章 辐射度、光度与色度的应用 作业： 1.什么是杂散光平？杂散光产生的原因有哪些？ 2.杂散光分析的步骤有哪些？ 3.分析系统测量误差对双色高温计测量精度的影响？ 小论文： 1.不透明材料光辐射特性的测量； 2.透明材料光辐射特性的测量方法研究； 3.绿色节能材料光辐射特性研究 11.3.3 表面对像表面杂散光平的贡献 杂散光计算是要找出各散射表面对最后像平面各部分杂散光平的贡献。 图11-33给出一个光学系统像平面以及其中三个镜管在物空间的投影位置和尺寸。为了计算从某视场角入射的光能经镜管散射到像平面上的杂散光量，先把各镜管分别在轴向和方位上分成若干块和区，分块/区的数目取决于所需计算的精度，散射光较强的部分可分细一些。每一块可用三个数字来表示其位置：第一个数表示轴向段号，第二个数表示方位区号，第三个数表示镜筒部件号，例如(1，3，2)表示第二镜管上第一轴向段的第三方位区。 图11-33 各散射面分块图 则像平面(Zc, Pc, C)接收的杂散光辐射通量等于各块/区 散射到像平面杂散光辐射通量之和。 图11-34 空间望远镜的消杂散光结构 设入射光位置是(x，y，n)，由(1，1，2)散射到 (1，3，3)上杂散光辐射通量等于 11.3.3 表面对像表面杂散光平的贡献 材料特性的测量 1 探测器特性的测量 2 光学系统中杂散光的分析与计算 3 辐射测温仪 4 下页 卫星多光谱扫描系统 5 第十一章 辐射度、光度与色度的应用 11.4 辐射测温仪 辐射测温优点： 实时测量、 分辨能力高、 测温能力强。 辐射测温方式 ： 测量辐射温度，由已知被测对象的发射率进行温度修正，确定其真实温度。当被测对象发射率很高时，辐射温度代替真实温度的误差很小。 采用双谱段的双色高温计，只要被测对象在双谱段的发射率近似相等，则不必知道被测对象的发射率，即可直接测得被测对象的真实温度。 在两个选定的相差不大的窄谱段λ1、λ2上，因一般物体在两个谱段的平均发射率也很相近，可认为ε1和ε2相等。由双光路分别测量被测物体的两个温度信号V1、V2，利用维恩近似式，可以得到两者之比Q 则 双谱段测温原理： 11.4 辐射测温仪 双色高温计结构： 图11-36给出硫化铟滤光片透射曲线及硅光电二极管组合的响应曲线。不同黑体温度时两个硅光电二极管的输出电压信号及其比值Ｑ如图11-37。可以看出：Q和温度T的关系近乎线性，偏离线性的最大偏差 Δtmax=10℃，约1％的误差。 图11-36 双通道系统的响应曲线 图11-37 比值Q和T的关系曲线 11.4 辐射测温仪 11.4.1 测温参数对测温精度的影响 系统测量误差对测温精度的影响 对公式 的T求导数，有 即 对一定的允许测温相对误差ΔT/T，λ1和λ2相差越小，允许的仪器相对测量误差dQ/Q就越小，例如Ｔ=1000Ｋ，允许测温相对误差ΔT/T=0.1%，则用λ1=0.65μm, λ2=0.75μm，允许的相对测量误差dQ/Q＝0.3%；如果λ1=0.65μm, λ2=0.85μm，则允许的相对测量误差dQ/Q＝0.52%。需要注意：λ1和λ2相差越大，把ε1和ε2看成相等所产生的误差也越大，这是一个矛盾。 11.4.1 测温参数对测温精度的影响 (2)有效波长确定误差的影响 有效波长λe：设对应温度T1和T2的黑体，如果在某一波长λe，其单色辐亮度之比等于仪