锰氧化物电学性质的研究-凝聚态物理专业毕业论文.docxVIP

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  • 2019-05-11 发布于上海
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锰氧化物电学性质的研究-凝聚态物理专业毕业论文.docx

万方数据 万方数据 摘要 近几年来,作为可同时具有(反)铁磁性和铁电性的钙钛矿型锰氧化物 HoMnO3 (HMO)材料,得到了理论和实验上的广泛关注。令人印象深刻的是,低温环境下, 具有正交晶相结构的 HMO 薄膜表现出良好的电学性质。鉴于此况,本论文在利用传 统的固相法制备六角晶相的 HMO 陶瓷样品的基础上,又分析了该样品的介电性质随 温度和频率的变化情况。同时,以该样品作为靶材,通过选择合适的基底,利用脉 冲 激 光 沉 积 (PLD) 技 术 镀 膜 的 方 法 制 备 出 正 交 晶 相 HMO 薄 膜 并 对 其 面 向 (out-of-plane)和面内(in-plane)的介电性质进行了详细的研究,具体内容如下: 首先,利用传统的固相反应法制备出 HMO 陶瓷样品。通过对所制备出的样品进 行 X 射线衍射扫描得到的衍射峰与从无机晶体结构数据库得到的标准晶体结构衍射 峰进行对比,发现我们所制备的样品与六角晶相的 HMO 的标准卡片相吻合,这表明 所制备的 HMO 陶瓷的晶体结构属于纯相的六角晶体结构。研究了该陶瓷样品介电性 质随温度和频率的变化,测定样品的电阻和禁带宽度,发现了在六角晶相 HMO 陶瓷 样品中存在半导体输运的性质。用阻抗谱图来表征 HMO 晶粒和晶界上的介电响应。 其次,用脉冲激光沉积(PLD)技术在掺杂 Nb 的 SrTiO3 单晶基底上制备了正交晶 相 HMO 薄膜,用 X 射线衍射仪和原子力显微镜分析了薄膜的结构和表面形貌。并 测量了变温条件下正交晶相 HMO 薄膜面向介电常数的实部和损耗随频率的变化。由 Debye 模型,得到了 Cole-cole 图,分析了材料中的介电弛豫机制。 最后,用脉冲激光沉积(PLD)技术在 LaAlO3(001)基底上外延生长了正交晶相 HMO 薄膜。利用叉指电极(IDEs)测量了 HMO 薄膜的面内介电常数和损耗随温度和 频率的变化,发现两个热激活的介电弛豫,随着测量频率的增加两个峰向温度增加 的方向转移。外延正交晶相 HMO 薄膜的面内介电性质可用通用的介电响应来描述, 载流子诱发的极化效应和跳跃电导解释了这一介电行为。 关键词:锰氧化物、介电弛豫、 PLD、叉指电极、面内介电性质 I Abstract The perovskite rare earth manganites HoMnO3(HMO) have attracted intensive theoretical and experimental studies over the years because of the coexistence of (anti)ferromagnetic and ferroelectronic orders in these materials. However, the electrical properties of orthorhombic HMO thin film show more impressive feature. Therefore, in this thesis, we researched the fabrication of single-phased hexagonal HMO ceramics by using solid-state reaction.,and the complex dielectric characteristics were investigated as functions of temperature and frequency. At the same time, with the HMO ceramics sample as target material, the orthorhombic HMO thin film was prepared by a pulsed laser deposition technique though choosing appropriate substrates, and its out-of-plane and in-plane dielectric properties was studied in detail .The specific contents are as follows: Firstly, the single-phased hexagonal HMO ceramics were prepared by using solid-state reaction. Good agreement between the observed diffraction peaks of X ray diffraction scanning and stan

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