西安电子科技大学自动控制原理课件4.5 根轨迹校正.pptVIP

第四章 根轨迹法 4.1 根轨迹与根轨迹方程 4.2 绘制根轨迹的基本法则 4.3 系统闭环零极点分布与阶跃响应的关系 4.4 控制系统的根轨迹分析法 4.5 根轨迹校正 4.6 广义根轨迹 1 校正目的：选择合适的校正装置K(s)，使根轨迹在合适的增益K值下具有所希望的主导极点，从而获得所希望的性能。 2 1、增加开环零点对根轨迹的影响 1）改变了根轨迹在实轴上的分布； 2）改变了渐近线的条数、与实轴的交点、夹角； 3）可以抵消对系统不利的闭环极点（构成偶极子）； 4）根轨迹左移（零点要适当），对稳定性有利； 5）系统阻尼增加，过渡过程时间缩短； 2、增加开环极点对根轨迹的影响 1）改变了根轨迹的条数； 2）改变了根轨迹在实轴上的分布； 3）改变了渐近线的条数、与实轴的交点、夹角； 4）根轨迹右移（极点要适当），对稳定性不利； 5）系统阻尼减小，过渡过程时间加长； 4.5 根轨迹校正 增加开环零点对根轨迹的影响 K*=1 增加开环极点对根轨迹的影响 K*=1 增加开环极点对根轨迹的影响 K*=10 3、增加开环偶极子对根轨迹的影响 原点附近增加一对开环偶极子：提高系统开环增益，有利于改善静态性能，同时改变根轨迹的条数。 开环偶极子对远处根轨迹形状及K*值影响不大，但开环增益 将提高 倍，ess降低！ 6 增加开环偶极子对根轨迹的影响 %增加开环偶极子对根轨迹的影响 zero=[-2]; pole=[-3 -1+2.83i -1-2.83i]; g=zpk(zero,pole,1); subplot(2,1,1) rlocus(g); axis([-4 0.5 -20 20]); zero=[-2 -0.2]; pole=[-3 -1+2.83i -1-2.83i -0.1]; g=zpk(zero,pole,1); subplot(2,1,2) rlocus(g); axis([-4 0.5 -20 20]); 4、根轨迹校正反馈系统 step: 1）暂态性能指标→期望的闭环主导极点； 2）绘制原系统的根轨迹，确定是否增加校正装置； 3）校正后系统根轨迹通过期望闭环主导极点，检验 开环比例系数是否满足静态指标（否则，增加开环 偶极子以改善之）； 4）检验暂、静态指标。 8 例：PID控制 已知： （比例proportional，积分integral，微分derivative） (1)P控制 (2)PD控制 根轨迹向左偏移，系统动态性能得以有效改善。 (3)PI控制 (4)PID控制 系统由1型变为2型，稳态性能明显改善。但由于引入积分，系统动态性能变差。 PID控制综合了微分控制和积分控制的有点，既能改善系统的动态性能，又保留了2型系统的稳态性能。 N1=[0 0 1]; D1=[1 2 0]; subplot(2,2,1) Rlocus(N1,D1); % grid on; N2=[0 1 4]; D2=[1 2 0]; subplot(2,2,2) Rlocus(N2,D2); % grid on; N3=[0 0 1 1.5]; D3=[1 2 0 0]; subplot(2,2,3) Rlocus(N3,D3); % grid on; N4=[0 0.25 1 1.5]; D4=[1 2 0 0]; subplot(2,2,4) Rlocus(N4,D4); % grid on; 12