数控系统PCB在偏压应力下的加速寿命试验数据分析研究开题报告.docVIP

学院 毕业设计开题报告 学生姓名: 学生姓名: 学 #: 专 业: 设计题目PCB在偏压应力下的加速寿命试验数据分析研究 指导教师 年 月曰 毕业设计开题报告 本课题的研究意义，国内外研究现状、水平和发展趋势 1研究意文 PCB( Printed Circuit Board),中文名称为印制电路板,又称印刷线路板，是重 要的电子部件，是电子元器件的支撑体，是电子元器件电气连接的载体。由于它是 采用电子印刷术制作的，故被称为乍卩刷吨路板。PCB应用范围相当广泛，包括计 算机、通信终端、消费电子、汽车电子、工业控制、医疗仪器、国防、航空航天等 领域。PCB的出现避免了人工接线的差错；实现了自动插装、焊接和检测；保证电 子整机产品的质量和可靠性；提高劳动生产率，降低生产成本，方便维修。 为了了解产品的性能和可靠性水平，就要进行产品的寿命试验。即在一批产品 中选取一定数量的样品，在实际使用过程中进行跟踪，或在实验室模拟实际使用过 程中的主要条件，在人工控制的条件下进行试验，记录下样品的失效时间(即寿命) 和原因。 由于PCB属于高可靠、长寿命的产品。其寿命可达数万小时以上，即使进行 数年试验，也可能没有失效，或只有一、二个失效。另一方而，国际间经济的竞争 口趋激烈，产品更新换代的速度愈來愈快。因此人们需要在较短时间内知道PCB的 质量信息，这就要求改进通常的寿命试验方法，以期在较短的试验时间内，获得较 多的失效样品，加速寿命试验正是适应这种需要孕育产生的。所谓偏压应力加速寿 命试骑，是指在保持失效机理不变的条件下，提高产品偏置电压进行试验，来加速 PCB的失效。对失效数据，利用统计方法进行分析，就可以得到PCB性能指标和 可靠性指标的估计，从而了解产品的质量。 对PCB进行加速寿命试验研究的意义在于可以在短期内知道PCB质量信息， 从而改进PCB质量，节约生产成本，保持产品竞争力。 2国内外加速寿命试验研究现状分析 从历史发展来看，统计分析先于最优设计，只有建立起数据处理的统计方法之 后，才会提岀如何估计得更准的优化设计问题。国外对加速寿命试验统计分析的研 究，始于六十年代。由于恒加试验相对比较简单，首先发展起来的是恒加试验数据 的统计分析方法。尽管恒加试验每组样品是在加速应力水平下进行的，但每组试验 条件是固定不变的，因此通常的统计方法完全可用，即可获得每组条件下产品寿命 分布参数的估计，再利用高斯一马尔可夫定理得到加速寿命方程中未知参数的估 计，进而外推出正常应力水平下产品寿命分布中参数的估值。随着恒加试验统计分 析理论的建立，恒加试验在实际中的应用也得到很大发展。 加速寿命试验在七十年代传入我国，由于其巨大的应用价值，引起了各方而的 关注。特别是近十几年，恒加试验方法已在我国电子、机械等行业屮获得大量应用, 取得了很大成效，并于81年颁布了恒加试验的9个国家标准(GB2689.I—81, GB2689.2—81, GB2689.3—81, GB2689.4—81)。 1985年茹诗松和他的学生，利用指数分布场合有序统计量的特性，给出了指数 分布场合，步加试验统计分析的新方法。 1987年殷向康和沈宝屮推导出威布尔分布场合序加试验对应的分布函数，从而 给出了参数MLE。 王玲玲等(1995)也研究了对数正态分布场合序加试验的统计分析。 费鹤良等(1991)将统计分析方法用在I古I体铉电解电容器序加试骑上。加速寿命 试验中的参数常常要求满足一定的约束条件，对于序加试验数据，汤银才和费鹤良 (1994)用Bayes方法给出了满足约束条件的新估计。 毕业设计开题报告 本课题的基本内容，预计可能遇到的困难，提出解决问题的方 法和措施 基木内容 1、 熟练使用c+VLabview软件，熟练掌握迭代求解方法/矩阵计算方法。 2、 掌握可靠性基本概念，掌握失效分布函数、可靠度函数、产品寿命特征的估 算方法。 3、 掌握产品恒定应力加速寿命试验统计模型（寿命分布模型和加速寿命模型） 4、 分析偏置电压对PCB失效的影响，构建PCB在偏压应力下的加速寿命试验统 计模型。 5、 掌握Weibull分布场合恒加试验的线性估计方法。 6、 利用Weibull场合下恒加试验的统计推断方法对加速寿命试验统计模型进行 参数估计和可靠性评估。 可能遇到的困难 1、 在加速寿命试验屮，可能出现少数失效甚至零失效的现象，这给基于数据处 理方法的传统可靠性分析和评定带来困难。 2、 如何构建PCB在偏压应力下的可靠性模型经行可靠性评估。 解决问题的方法和措施 1、目前针对小样木等情形，存在的数据处理方法有最小二乘法、极大似然等数据 处理方法，因此通过分析函数的特点和函数模型选择适应的处理方法。 例如最小二乘法的公式 注以下“平”是指某参数的算数平均值。女山X