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测量系统分析（MSA） 有关测量的基本概念 测量：定义的赋值（或数）给具体事物以表示他们之间关于特定特性的关系。 赋值过程定义为测量过程，而赋予的值定义为测量值。 量具：任何用来获得测量结果的装置，经常用来特指用在车间的装置；包括用来测量合格/不合格的装置。 测量系统：用来对被测特性定量测量或定性评价的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、操作人员、环境和条件的集合。 精密度：是指测量仪器所能够区分出的微量程度或最小距离，亦即代表测量仪器对同一待测工件，以相同测量过程作重复测量时，其各测量结果的差异程度。以差异程度愈微小称为精密度佳。 准确度：是指测量仪器的实际测量值（或测量平均值）与待测值之真值的接近程度，亦即实际测量值偏离真实值的程度。以偏差愈微小之程度称为准确度佳。 分辨力：测量仪器上的最小刻度值，也称分辨率。通用的比例规则：1/10比例法则，如产品尺寸要求精确到0.1，到量具的分辨力应为0.01。 测量过程可以看成是一个制造过程，它产生数据（数字）作为输出测量过程 测量过程可以看成是一个制造过程，它产生数据（数字）作为输出 测量数据输入输出标准零件仪器程序环境测量活动 测量数据 输入 输出 标准零件仪器程序环境 测量活动 （三）测量系统应具备的统计特性 1.有足够的分辨率和灵敏度。应高于过程变异和公差带两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变异和公差带两者中精度较高者的十分之一。 2.测量系统均须在统计管制下，而其所产生之变异只能是由于普通原因，而非特殊原因。 3.对于过程控制，测量系统之变异必须小于制造过程之变异。 4.对于产品控制，测量系统之变异须小于公差带。 5.测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化。如果这样，则测量系统最大的变差应小于过程变差和公差带两者中的较小者。 （四）测量系统变异的类型 测量系统的变异可分成五种类型：偏移、稳定性、线性、重复性和再现性。 测量系统变异通常变异较大的是： 测量系统变异 量具的重复性和再现性。 评价者变异再现性量具变异 评价者变异再现性 量具变异 重复性线性稳定性偏移 重复性 线性 稳定性 偏移 1.偏移：测量结果的观测平均值与基准值的差值。 偏移大小表示测量系统的准确度，偏移越小表示准确度越好，反之越差 2.稳定性：又称漂移，指经过一段时间后，用相同的测量系统，对同一基准或零件的同一特性测量所得到的变异。亦即偏移随时间的变化。 3.线性：指量具在工作量程内，偏移量之差异分布状况。亦即偏移随量程的变化。 4.重复性：又称测量设备的变异，是由同一位评价人，采用同一测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时所得测量值差异。 5.再现性：又称评价人变异，指不同评价人采用相同测量仪器，测量同一零件同一特性时，测量平均值变异。 6.量具RR或GRR：RR是结合重复性和再现性变异的估计值。 （五）测量系统分析的两个阶段 测量系统的评定通常分为两个阶段： 第一阶段：了解该测量过程并确定该测量系统是否满足要求。 第一阶段试验主要有两个目的： 确定该测量系统是否具有所需要的统计特性，此项必须在使用前进行。 发现哪种环境因素对测量系统有显著影响，如温度、湿度等，以决定其使用空间及环境。 第二阶段的评定：目的是验证一个测量系统随时间的推移是否持续满足要求。这种评定通常是周期性进行，如每半年或每年进行一次分析。 （六）测量系统分析的应用和时机 测量系统分析的结果可应用于： 1.接受新测量设备的准则； 2.一种测量设备与另一种的比较； 3.评价怀疑有缺陷的量具的根据； 4.维修前后测量设备的比较。 测量系统分析时机： 新生产之产品PV（零件变差）有不同时； 2.新仪器，EV（仪器变差）有不同时； 2.新操作人员，AV（人员变差）有不同时； 3.易损耗之仪器必须注意其分析频率。 （七）测量系统分析之准备 1.先计划将要使用的方法。有些测量系统的再现性影响可以忽略，如按按钮，打印出一个数字。 2.评价人的数量、样品数量及重复读数次数应预先确定。选择应考虑以下因素。 A. 尺寸的关键性——关键尺寸需要更多的零件和/或试验。 B. 零件结构——大或重的零件可规定较少样品和较多试验。 3.由于目的是评价整个测量系统，评价人选择应从日常操作该仪器人中选择。 4.样品选择： 对于产品控制情况，样本的选择不需要覆盖整个过程范围。 对于过程控制情况，样本必须是选自于过程并且代表整个的生产过程。 样本可以通过每天取一个样本，持续若干天的方式进行选取。 5.仪器分辨力应允许至少直接读取特性的预期过程变差的1/10，例如，如果特性的变差为0.01，仪器应能读取0.001的变化。 6.建立测量程序，以确保测量方法