电子显微分析-SEM的断口分析.pptVIP

SEM局限性 1、仅于表面形貌观察； 结构分析较差 2、分辨本领赶不上TEM的原子尺度? 另、金相制样注意： 稍深点腐蚀（衬度好，起伏大）， 充分利用SEM的立体感强，层次丰富，景深大 Al-Si过渡区（激光重熔） Al-Si激光重熔前 Al-Si激光重熔区 马氏体 马氏体 金相组织 马氏体 电子通道花样 电子通道花样 X－Ray图像 X－Ray线分布 铸造枝晶 景深D大 景深大的图像立体感强，对粗糙不平的断口样品观察需要大景深的SEM。 景深比较 SEM景深比TEM大10倍， 比光学显微镜（OM）大100倍。如10000倍时,TEM :D＝1?m，SEM:10?m, 100倍时，OM:10?m，SEM=1000?m。 SiC陶瓷的二次电子像 分辨测定 分辨测定 分辨测定 分辨测定60?(AMRAY-1000B) 二次电子与背反射电子像 珠光体 珠光体 1018号钢在不同温度下的断口形貌 纳米材料形貌分析 多孔氧化铝模板制备的金纳米线的形貌（a）低倍像（b）高倍像 半导体方面的应用 （a）芯片导线的表面形貌图， （b）CCD相机的光电二极管剖面图。 蝇 生物 第三节 SEM的断口分析 在试样或构件断口分析方面，扫描电子显微镜的优点已为人们所公认。 制样简单：它不需要象透射电子显微镜那样制备复型，既省事又不致在制备过程中引入假象。 连续放