光盘检验规范.docVIP

3 - 深圳乙辰科技科发展有限公司 光盘检验规范 文件编号： PAGE 3 - 光盘检验规范 适用于：全机种 修改履历： 版本号： 修改时间 ： 修改页： 修改内容： 审核： 确认： 编成： 一、目的： 明确产品检验标准，确保产品质量满足公司和客户要求。 二、范围： 适用于本公司生产和外协加工之系列产品所用光盘。 三、相关文件： 参照公司研发部发行的相关产品规格书。 四、定义： 4.1缺陷定义： 4.1.1 CR（Critical）:致命缺陷，对产品使用、维修或有关人员会造成危害或不安全的缺陷，抵触安全规格要求的，或妨碍到某些主要的功能的缺陷； 4.1.2． MAJ（Major）:主要缺陷，即不构成致命的，但可能造成故障，或对单位产品预定的目的使用性能会有严重的降低的缺陷； 4.1.3. MIN（Minor）:次要缺陷，只对产品的有效使用或使用性能有轻微的影响的，一般为外观或机构组装之差异。 五、检验所需仪器和设备： 电脑（含光驱和杀毒软件）。 六、检验水准： 按照MIL-STD-105E一般检验Ⅱ级水准及主要AQL水平进行抽验，允收标准： 严重缺陷AQL为：CR=0 ；主要缺陷AQL为MA=0