BESⅢ Muon前端读出小电子学过流保护系统研究.docxVIP

优秀毕业论文 精品参考文献资料 摘要摘要 摘要 摘要 本文作为BESIII慢控制系统研究工作的一部分，主介绍了针对Muon前端 读出电子学的过流保护系统的设计与测试。 BESIII Muon读出电子学系统由前端FEC子系统以及VME子系统组成。过 流保护系统是针对前端FEC子系统设计的，其主要功能是监控FEC数据链的供 电电源。在BEPCII束流丢失并击中RPC探测器导致电源输出过流时切断其供电， 并将各个电源模块的状态通过以太网实时上传至上位机。 本文首先介绍了过流保护系统设计的背景，包括了BESIII以及Muon读出 电子学系统的概况与现状，说明了设计过流保护系统的必要性。重点介绍系统设 计的关键部分，系统硬件设计、软件设计这两方面，最后给出了过流保护系统的 测试方案与测试结果。 硬件设计部分根据系统整体的方案与指标给出了详细的硬件设计方案。首先 根据性能参数选定了TI公司的智能电源开关芯片一一TPS2590，以其为核心进 行硬件设计，实现对电源供电电流的自动监测与控制，并提供状态指示的功能。 其次，使用了基于ARM内核的微控制器实现对TPS2590的监控以及与上位机通 信的功能。此外，考虑到强化抗干扰能力的需要(干扰主要包括现场的环境干扰 以及束流打偏时的地线干扰)，硬件设计上加入光电耦合模块。 软件设计主要包括下位机以及上位机程序的设计，重点介绍下位机程序的设 计。下位机程序主要实现对TPS2590的监控以及与上位机进行通信两方面的功 能，此外，考虑到在现场进行固件升级时按照一般的方法比较费时费力，加入了 IAP方式对固件进行远程更新的设计，方便了下位机的固件升级。上位机软件的 功能则是与多个下位机通信。 样机测试是系统设计的最后一个环节，主要包括了测试的方案与测试结果。 测试的方案主要包括功能测试，性能测试，抗干扰能力测试以及长时间工作测试 等四个方面，通过这几项测试的结果证明了过流保护系统在功能、性能以及可靠 性等各个方面均满足设计需求。最后介绍了过流保护系统在谱仪大厅现场安装并 测试的具体情况。 本论文取得的主要研究成果如下： 1．采用电源开关芯片在硬件层面实现过流保护系统的关键功能，代替原有 的数据链快速熔断保险丝。该方法具备快速关断与远程程控恢复等保险丝不具备 的优点，同时避免了慢控制系统原先采用的安全联锁管理方法进行过流保护时产 生的连锁环路延时： T 万方数据 摘要2 摘要 2．针对Muon前端读出电予学的地线干扰闻题，过流保护板的供电采用了 控制核心与电源开关独立供电的方法隔离地线，并通过光电耦含模块建立连接， 增强了系统整体的抗干扰能力。 关键字：BESIII Muon前端电子学过流保护系统TPS2590 ARM微控制器 万方数据 AbstractABSTRACT Abstract ABSTRACT As part of research work of BESIII slow control system，this paper introduces the design and test of over-current protection system which protect the Muon front—end electronics readout system． BESIII Muon Counter readout system consists of front-end FEC subsystem and VME subsystem．Over-current protection system is designed for FEC subsystem．The function of over-current protection is to monitor the power supply of FEC data chains and protect it against large current which result from the beam loss of BEPCII． At the beginning，this paper introduces the design background of over-current protection system，including the general and current situation of BESIII and Muon Counter readout system，which illustrates the necessity of the design of over-current protection system．Then the paper emphatically introduces the