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2012/11/25
第五章 无铅PCB质量保证及案例分析
PCB可靠性问题概述
PCB工艺质量缺陷分析及控制方法
PCB 润湿不良失效机理及案例分析
PCB 分层爆板失效控制方法
PCB CAF 失效机理及案例分析
典型失效案例分析
5.1 PCB可靠性概述
• PCB 作为各种元器件的载体与电路信号传输的枢纽已经成为电
子信息产品的最为重要而关键的部分,其质量的好坏与可靠性
水平决定了整机设备的质量与可靠性。
1
2012/11/25
无铅化带来的挑战
• 高热容
(高温与长时间,热损伤)
• 小窗口
(工艺窗口急剧变小,工艺控制难度?)
• 低润湿性
(润湿性能严重下降,焊接质量更难保证?)
无卤化带来的挑战
• 电气性能
(SIR 、CAF 、介电)
• 硬度脆度增加
(可加工艺性能)
• 剥离强度
(分层剥离增加)
2
2012/11/25
5.2 PCB工艺质量缺陷及控制办法
多层喷锡板工艺流程简介
下料CT → 内层DF1 → 压合ML → 钻孔DR → 一銅Cu1 → 線
路DF2 → 二銅Cu2 → 蝕刻SES → 防焊SM → 喷锡HAL → 文
字WP → 成型RT → 电测OS → 成品检验VI
容易引起PCB质量的关键工序
1)钻孔
2)去胶渣 通孔质量
3)电镀
4)压合
5)表面处理
案例1 电镀不良—孔破
3
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金相切片分析
案例2 电镀显微结构缺陷—孔破
据委托单位反映,导通孔因断裂开路,1135周产品在焊后ICT功能测
试中失效,失效比率100%
4
2012/11/25
金相分析
孔铜断裂
孔铜出现断裂,断裂位置基本位于孔中部,铜镀层厚度
较为均匀,相对较薄处铜厚在24μm左右,PCB板未见
爆板分层和焊盘起翘,部分孔铜断裂位置发现基材开裂
现象
镀层显微结构缺陷—局部开裂照片
5
2012/11/25
晶界空洞 孪晶
孪晶
晶界空洞
案例3 PCB短路开路
1 样品描述:所
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