- 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
- 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
堡堕!Q丝二塑堑
CNIl一2034/T
实验技术与管理
ExperimentalTechnology
第24卷第12期2007年12月
V01.24
No.12
Dee.2007
and
Management
非晶硅太阳能电池i层厚度
优化的数值模拟
姚若河,郑佳华
(华南理工大学物理科学与技术学院,广东广州
510640)
摘要:应用AMPS一1D软件对非晶硅太阳能电池的-,一l,特性进行了模拟研究,重点模拟分析了i层厚度对P—i-n结构非晶硅太阳能电池特性参数的影响。关键词:太阳能电池;非晶硅;数值模拟中图分类号:TP39
文献标识码:B
文章编号:1002-4956(2007)12-0067-02
Numericalsimulationofi—layersthickness
on
a—Si:HP—i-nsolarcelldevices
YAORuo—he,ZhengJia—hua
(SchoolofPhysics,SouthChinaUniversityofTechnology,Guangzhou510640,China)
Abstract:TheAMPS一1D(analysisofmicroelectronicandphotoniccharacteristics
structures)was
used
on
to
modulethelightJ-V
ofa—Si:HP—i-nsolarcelldevices.Theeffectsofthei-layersthicknessthelightJ—Vcharacteris—
ticshavebeenexamined.
Keywords:solarcell;a—Si:H;numericMsimulation
太阳能是一种清洁、无污染、取之不尽用之不竭的自然能源,将太阳能转换为电能是大规模利用太阳能的重要技术基础。半导体太阳能电池利用半导体的光生伏特效应直接将太阳能转化为电能,技术比较成熟。在硅系列电池中,由于非晶硅对阳光的吸收系数高,活性层只需1¨m厚,材料的需求量大大减少;沉积温度低,可直接沉积在玻璃、不锈钢和塑料膜等廉价的衬底材料上;生产成本低,具有单片电池面积大、适于工业化大规模生产等优点而受到重视。
形成P—i-n结构。图1中,衬底为n型非晶硅,顶层为P型的非晶SiC材料,中间缓冲层为本征非晶硅,主要结构参数和模拟参数见表1。
图1P?i-11结构非晶硅太阳能电池结构示意图P-i?n结构非晶硅太阳能电池的模型参数
参数
P层(a_SiC)
i层(a-si)
1.801.724.00
11.9
表1
1模型结构与模拟原理
1.1器件结构
典型的非晶硅太阳能电池结构如图1所示。非晶硅中由于原子排列缺少结晶硅的规则性,缺陷多,因此,要在P层与n层之间加入本征层i层,
收稿日期:2007—02—28
作者简介:姚若河(196l一),男,广东省揭阳市人。博士,教
授。从事半导体器件及物理的教学和科研工作.
n层(a_Si)
1.80
迁移率带隙/eV光学带隙/eV电子亲和能/eV相对介电常数占
有效态密度Nc/(cm。3eV一)Nv/(cm一3eV一1)
1.961.90
3.9211.9
1.724.0011.92.5×10202.5×1020
2.5X10202.5×1020
2.5×10202.5×1020
万方数据
实验技术与管理
续表
参数
P层i层n层(a-SiC)
(a-Si)
(a-Si)
电子迁移率p。/(cm2V一18—1)空穴迁移率O.52l
/.z。/(cm2V一8—1)价带尾态特征能量迁移0.2
0.050.05
率ED/eV
导带尾态特征能量迁移0.07O.03O.03
率E^/eV掺杂浓度/cm
q
N^=3×10”ND=1×1019Gdo/(cm。3eV一1)1.0×10191.0×10191.0×1019G。/(cm一3eV一1)
1.0×1019
1.0×1019
1.0×1019
EooN/eV
1.241.121.12EAce/eV
1.14
1.021.02
隙问定域态分:砟//cm。3
3×10TM
5×1016
3×10Is
1.2模拟原理
模拟在态密度(DOS)模式下进行。对于非晶硅来说,带尾定域态相当重要,使用指数函数来模拟,用高斯分布来描述非晶硅的悬挂键。对P—i—n结构非晶硅太阳能电池,若给出各层半导体材料的能带结构、电子态密度分布、空穴态密度分布和电子亲和能等,根据半导体器件3个基本方程:泊松方程,电子连续性方程和空穴连续性方程,在适当的边界条件下即可求解出器件的特性。
泊松方程把材料体系中的自由载流子数目,受陷电子和受陷空穴数目,离化杂质数目等和静电场联系起来。泊松方程表示为
期占(茗)警]=q×[p(髫)一n(石)+
原创力文档


文档评论(0)