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§8-5 双极型数字电路的版图设计 IC设计是根据电路指标,首先设计出在集成电路工艺中可以实现的电路,再根据有关的设计规则,将电路图转变成一张硅平面工艺的复合图,即总版图,进而制出一套硅表面上各道工序的光刻掩膜版。利用这套掩膜版,按一定的工艺流程进行生产,就可以作出符合原设计指标的集成电路。IC设计的目标是设计出用最低成本就可实现预定指标的IC,这就要求设计者具有线路、工艺、设计甚至经济管理方面的知识。 8-5-1 VLSI设计过程简介 Intel Pentium (IV) microprocessor 三、VLSI的设计方法 VLSI设计方法学旨在人工干预设计与CAD工具之间的交互过程中取得尽可能高的设计效率。 VLSI设计的一般形式 层次式设计是VLSI设计中最广泛使用的方法,它可以简化VLSI设计的复杂性。层次式设计方法分为自顶向下和自底向上两种方法。 层次化设计分为三个域:行为域、结构域和几何域。 IC层次式设计方法(以自顶向下的设计方法为例) 系统级、功能级、寄存器传输级、门级、电路级、版图级(物理级)。 8-5-2 人工版图设计的一般过程 人工设计对EDA来说,仍是最基本的,特别是需要人工干预时有重要的参考价值。 一、准备工作 1、深刻理解电路参数和电路结构。要了解: A:各个元件在电路中的各种工作状态。 B:元件的参数对元件状态的影响,进而对电路指标的影响。 C:元间的图形,横向及纵向尺寸对元件参数的影响。 D:元件间的相互影响。 这样才能设计出好的版图,才能根据试生产的结果,找到调整版图的途径。 2、了解工艺特点及工艺水平: 版图设计以能在特定的生产线实现作为最起码的条件。一个好的设计,应可发挥出生产线的最大潜力,不仅能能够达到电路的参数指标,而且要有较高的成品率,使成本降低。所以,电路设计时就要求根据工艺确定电路结构及选用的元件。版图设计是更要把工艺水平作为设计的基础。 二、人工版图设计的一般过程:大致可分为逻辑级、门级、晶体管级、版图级4个步骤。 逻辑级 门 级 晶体管级 版图级 全加器示例: Design a single bit full adder (FA), using 0.8 um CMOS Technology. 规格要求: Td 1.2 ns Tr, Tf 1.2 ns Area 1500 um2 Pd 1mA @5V, 20MHz 从晶体管级到版图级的步骤 1、在明确了电路指标的情况下,估算出对各元件的要求。 2、根据生产线的情况确定版图设计的基本尺寸和设计规则,代工时由代工厂提供。 基本尺寸有: 1)掩模图形最小线宽(尺寸):主要由光刻水平决定,决定了版图中最小图形的宽度。 2)掩模图形最小间距:指在保证较高成品率的基础上,相邻图形间所需要的最小间距。 最小间距主要由下列因素决定: A:掩膜对准容差△XMAT:指设计的图形位置和实现后图形位置之间的统计平均误差。△XMAT分为一次对准容差△XMAT1和二次对准容差△XMAT2。 B:横向扩散0.8Xj :结深的80%。 C:耗尽层宽度Wd:与工作电压,衬底的电阻率及掺杂浓度有关。 D:最坏情况下的最小间距Gmin:额外加上的,一方面是“保险系数“,一方面也包含了其他没有考虑的因素 。 设计规则 IC设计与工艺制备之间的接口 制定目的:使芯片尺寸在尽可能小的前提下,避免线条宽度的偏差和不同层版套准偏差可能带来的问题,尽可能地提高电路制备的成品率。 什么是设计规则?考虑器件在正常工作的条件下,根据实际工艺水平(包括光刻特性、刻蚀能力、对准容差等)和成品率要求,给出的一组同一工艺层及不同工艺层之间几何尺寸的限制,主要包括线宽、间距、覆盖、露头、凹口、面积等规则,分别给出它们的最小值,以防止掩膜图形的断裂、连接和一些不良物理效应的出现。 我们总是希望基本尺寸越小越好,只有这样,在相同的芯片面积上,才能集成更多的元件,或者说单元电路所占的面积将减小,这样成品率将提高。但有时为了保证成品率,也会将基本尺寸放大一点。 图形最小间距:由于一般设计规则由厂家提供,大家重点要了解每个间距的含义。在这里我们只简单推导三个参数作为例子,即DB-B孔,DB-I孔,DC-I孔。 3、设计电路中各元件的初步图形和尺寸 设计完后用电脑或人工进行核算,检验初步设计的元件是否满足电路指标的要求。当然在排线时,还要对元件图作某些修改。对晶体管
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