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(0.8413)^25=0.01329 如果用n=1時,其製程中心偏離了2σ其檢出力為0.1586 如果用n=4時,其製程中心偏離了2σ其檢出力為0.842 ETBEST Consulting Company 不合格品數np圖 “np”圖是肉來度量一個檢驗中的不合格品的數量,與p圖不同,np圖表示不合格品實際數量而不是與樣本的比率。p圖和np圖適用的基本情況相同,當滿足下列情況可選用np圖 不合格品的實際數量比不合格品率更有意義或更容易報告。 各階段子組的樣本容量相同。“np”圖的詳細說明與p圖很相似,不同之處棄如下: ETBEST Consulting Company A收集數據 受檢驗樣本的容量必須相等。分組的周期應按照生產間隔和反饋系統而定。樣本容量應足夠大使每個子組內都出現幾個不合格品,在數據表上記錄樣本的容量。 記錄並描繪每個子組內的不合格品數(np)。 ETBEST Consulting Company B計算控制限 ETBEST Consulting Company 過程控制解釋、過程能力解釋 C過程控制解釋:同“p”圖的解釋。 D過程能力解釋:過程能力如下: ETBEST Consulting Company 100 100 100 100 100 100 100 100 100 100 1 2 1 0 1 2 1 2 0 2 不合格品數np圖 ETBEST Consulting Company Case study 組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 “n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150 “d” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0 組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 “n” 150 150 150 150 150 150 150 150 150 150 “d” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0 組 21 22 23 24 25 “n” 150 150 150 150 150 “d” 0 1 2 0 1 ETBEST Consulting Company Case study 請計算出上表的np控制圖的控制限? 請判定過程是否穩定? 如果是不穩定該如何處理? ETBEST Consulting Company 缺陷數c圖 “c”圖內來測量一個檢驗批內的缺陷的數量,c圖要求樣本的容量或受檢材料的數量恆定,它主要用以下兩類檢驗: 不合格分佈在連續的產品流上(例如每匹維尼龍上的瑕疪,玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點),以及可以用不合格的平均比率表示的地方(如每100平方米維尼龍上暇疵)。 在單個的產品檢驗中可能發現許多不同潛在原因造成的不合格(例如:在一個修理部記錄,每輛車或元件可能存在一個或多個不同的不合格)。 主要不同之處如下: ETBEST Consulting Company A收集數據 檢驗樣本的容量(零件的數量,織物的面積,電線的長度等)要求相等,這樣描繪的c值將反映質量性能的變化(缺陷的發生率)而不是外觀的變化(樣本容量n),在數據表中記錄樣本容量; 記錄並描繪每個子組內的缺陷數(c) ETBEST Consulting Company B計算控制限 ETBEST Consulting Company 過程控制解釋、過程能力解釋 過程控制解釋 同p圖解釋 過程能力解釋 過程能力為c平均值,即固定容量n的樣本的缺陷數平均值。 ETBEST Consulting Company Case study 組 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 “c” 1 0 1 3 2 1 0 2 1 0 組 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 “c” 0 1 0 2 0 1 0 2 1 0 組 21 22 23 24 25 “c” 0 1 2 0 1 每一組的樣本數都是固定為100。 ETBEST Consulting Company Case study 請計算出上表的c控制圖的控制限? 請判定過程是否穩定? 如果是不穩定該如何處理? ETBEST Consulting Company 單位產品缺陷數的u圖 “u”圖用來測量具有容量不同的樣本(受檢材料的量不同)的子組內每檢驗單位產品之內的缺陷數量。除了缺陷量是按每單位產品為基本量表示以外,它是與c圖相似的。“u”圖和“c”圖適用於相同的數據狀況,但如果樣本含有多於一個“單位產品”的量,為使報告值更有意義時,可以使用“u”圖,並且在不同時期內樣本容量不同時必須使用“u”圖。“u”圖的繪制和“p”圖相似,不同之處如下: ETBEST Consulting Company A收集數據 各子組樣本的容量彼此不必都相同,
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