高分子材料常见几种表征方式.ppt

XPS ??XPS分析方法 化合态识别-Auger线 以EBP为横坐标，EBA为纵坐标，?‘为对角参数将给出二维化学状态平面图，对识别表面元素的化学状态极为有用。 Ag及其化合物的 二维化学状态图 XPS ??XPS中的化学位移 等效原子实方法 对于NH3和N2的光电离有 上角标“*”为电离原子。 XPS ??XPS中的化学位移 等效原子实方法 若光电子的动能为零，则从化学上讲，这是一种需要吸收能量，等于N1s轨道电子结合能的吸热反应。即： XPS ??XPS中的化学位移 等效原子实方法 根据等效原子实的思想，N*与O的原子实等效，因此有： 所以有： XPS ??XPS中的化学位移 等效原子实方法 根据等效原子实方法若分子和离子的生成热已知，则化学位移可求。 由热化学数据求得的一组含氮化合物的相对结合能与XPS所测结果的对比 XPS ??XPS中的化学位移 化学位移的经验规律 同一周期内主族元素结合能位移随它们的化合价升高线性增加；而过渡金属元素的化学位移随化合价的变化出现相反规律。 分子M中某原子A的内层电子结合能位移量同与它相结合的原子电负性之和ΣX有一定的线性关系。 XPS ??XPS中的化学位移 化学位移的经验规律 对少数系列化合物，由NMR(核磁共振波谱仪)和Mossbauer谱仪测得的各自的特征位移量同XPS测得的结合能位移量有一定的线性关系。 XPS的化学位移同宏观热力学参数之间有一定的联系。 XPS ??XPS分析方法 定性分析 同AES定性分析一样，XPS分析也是利用已出版的XPS手册。 XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 在XPS中可以观察到几种类型的谱线。其中有些是XPS中所固有的，是永远可以观察到的；有些则依赖于样品的物理、化学性质。 光电子谱线 ：在XPS中，很多强的光电子谱线一般是对称的，并且很窄。但是，由于与价电子的耦合，纯金属的XPS谱也可能存在明显的不对称。 XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 谱线峰宽：谱线的峰宽一般是谱峰的自然线宽、X射线线宽和谱仪分辨率的卷积。高结合能端弱峰的线宽一般比低结合能端的谱线宽1~4 eV。绝缘体的谱线一般比导体的谱线宽0.5 eV。 XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 Auger谱线：在XPS中，可以观察到KLL, LMM, MNN和NOO四个系列的Auger线。 因为Auger电子的动能是固定的，而X射线光电子的结合能是固定的，因此，可以通过改变激发源(如Al/Mg双阳极X射线源)的方法，观察峰位的变化与否而识别Augar电子峰和X射线光电子峰。 XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 X射线的伴峰：X射线一般不是单一的特征X射线，而是还存在一些能量略高的小伴线，所以导致XPS中，除K?1,2所激发的主谱外，还有一些小的半峰。 XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 Mg阳极X射线激发的C1s主峰及伴峰 XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 X射线“鬼峰” ：有时，由于X射源的阳极可能不纯或被污染，则产生的X射线不纯。因非阳极材料X射线所激发出的光电子谱线被称为“鬼峰”。 Contaminating Radiation Anode Materials Mg Al O (K?) Cu (L?) Mg (K?) Al (K?) 728.7 323.9 - -233.0 961.7 556.9 233.0 - XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 震激和震离线：在光发射中，因内层形成空位，原子中心电位发生突然变化将引起外壳电子跃迁，这时有两种可能：(a)若外层电子跃迁到更高能级，则称为电子的震激(shake-up)；(b)若外层电子跃过到非束缚的连续区而成为自由电子，则称为电子的震离(shake-off)。无论是震激还是震离均消耗能量，使最初的光电子动能下降。 XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 Ne的震激和震离过程的示意图 XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 Cu的2p谱线及震激结构 XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 多重分裂 ：当原子的价壳层有未成对的自旋电子时，光致电离所形成的内层空位将与之发生耦合，使体系出现不止一个终态，表现在XPS谱图上即为谱线分裂。 XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 Mn+离子的3s轨道电离时的两种终态 XPS ??XPS分析方法 定性分析-谱线的类型 MnF2的Mn3s电子的XPS谱 XPS ??XPS分析方