x荧光分析仪资料.pptxVIP

分析仪的技术原理 安全使用X射线仪器 样品的准备 标准的测试步骤 检测结果的理解 实验报告的编写 ;一、分析仪的技术原理;在样品中激发产生特征X-射线;XRF：X-Ray Fluorescence X射线荧光分析 当原子核的内层电子（如K层）受到外来X射线的照射时，会吸收能量而被激发； K层的外层相邻电子层（L层）会马上跃迁补充至K层。由于L层电子能量高于K层，多余的能量便以特征X-射线发散出来。称为亚X射线，又称为荧光。 每种原子的电子在跃迁时都以特征X-射线放射能量，根据此X-射线的特征和强度，就可进行定性和定量分析。 ;XRF－分析技术;仪器内部结构;XRF分析技术;二、安全使用X射线仪器 ;核辐射的危害;;仪器的安全性;如何正确使用仪器？;根据样品的材质分类： 金属材质(Metal Material)－合金模式 聚合物材质(polymer material)－塑料模式 电子零件及材料(PWB or Components)－塑料模式 金属类：金属板材，支架等 聚合物类：塑料，泡沫，橡胶，海绵等 电子元器件类：线路板，电阻，电容等 其他类：涂料，颜料，绝缘漆，玻璃，陶瓷，胶木，墨水等 ;（一）均质样品的含义;Sn = 88 Pb = 235 Zn = 57 Ti = 4%;某些情况下，也可不分拆样品, 直接对电子零配件 （Component level －组件）最小单位的电子元器件，即通过常规工具可以分拆,但未损坏其功能的最小单元。 实例： 电子元器件部件如：印刷电路板；电阻；电容器；二极管；集成电路 机电部件如：接插件，电缆绝缘体 机械部件如：螺钉；经过表面处理的或涂层的外罩或内室；键（键盘中）；具有饰纹或涂层的玻璃；玻璃陶瓷件等;简单分拆后的样品应该如何评价—均质材料;简单分拆后的样品应该如何评价—均质材料;简单分拆后的样品应该如何评价—均质材料;四 样品的测试步骤;（一）合金样品的测试;塑料分析模式－－测试时间120－200秒；样品须完全覆盖检 测窗口、厚度大于5mm 1、超小样品（最大不超过2×4mm） 将晶体管或电阻放在样品杯中进行叠放，叠放的厚度至少为5mm。 如果样品是嵌在塑胶带里，应将其剥离并取出放入样品杯中再进行检测。 2???较大样品 在XLt797分析仪上放置一两个样品（例如集成电路块），以便完全覆盖分 析窗口（放置样品的具体数量由集成电路（IC）的尺寸决定）。 3、电缆和导线的绝缘层 剥下电缆和导线的绝缘外皮，并将它们放置在盖有聚酯薄膜的X射线样品杯 中进行检测。;小提示;精确分析时的样品前处理;精确分析时使用样品杯;当样品厚度超过5mm时，检测结果将趋于稳定;（三）混合型样品的测试;样品的测试－要点总结;;XRF检测结果： 合格（Pass） 超标（Fail）“*” 可疑件（Inconclusive）“？” 由于电子产品的多样性和复杂性，以及业内人士的经验，我们建议最终用户在使用XRF分析仪时，根据自身的实际情况来设定合格区、超标区和可疑区。 ;RoHS指令;如何根据检测数据判断样品是否符合“RoHS指令” ①如果一个样品Cd70ppm、Pb700ppm、Hg700ppm、Br300ppm、Cr700ppm仪器将会显示“PASS”之样，表示此样品符合“RoHS指令” ②如果一个样品Cd、Pb、Hg中任何一个元素的含量超过以上数值，且此超标元素旁出现“？”符号，仪器会显示“INCONCLUSIVE”表示此样品可疑。必须延长测试时间至200秒。如仍然显示“？”，可比较其光谱图进行定性判断。(参考附图) ③如果一个样品中Br300ppm、Cr700ppm，此元素旁出现“*”，仪器会显示“INCONCLUSIVE”表示此样品可疑，必须将样品送到实验室用GC－MS仪和UV仪分别进行检验PBBPBDE和Cr 6+的含量。 ④如果一个样品中Cd、Pb、Hg中任何一个元素的含量超过以上数值，且此超标元素旁出现“*”符号，仪器会显示“Fail”表示此样品不符合“RoHS指令”。;元素;如何根据检测数据判断样品是否符合“RoHS指令”;物质;;ASTM F963-96a;EN71-3;Pb含量约为 1200 {mg/kg];附：如何查看、比较数据的光谱图;;;;;;;;金属元素参考峰(IEC62321指令);六、实验报告的编写;实验报告的编写－续;谢谢！