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统计技术管理办法
1.?目的:
为了控制和验证制程能力和产品特性,?使本公司在关键岗位上充分运用采集的信
息和数据,?分析和控制质量问题的发生,?有助于揭示质量形成规律及满足顾客的要求和
期望.
2.?范围:
本办法适用于本公司进料检验,?制程检验,?制程能力确认试验,?成品检验,?可靠度试
验,?主要制程参数管制等能以统计技术,?图表式管制图作为管制手段的场所.
3.?定义:
3.1?管制图:?P-CHART,?U-CHART,?Xbar-R,?TREND?CHART.
3.2?DPPM?(?Defect?Part?Per?Million?):?百万分之不良率管制图.
3.3?CpK?(?Integrated?capability?index?):?综合制程能力指数.
Cp= USL-LSL
6??
CpK= min?{CpU?,?CpL}
Ca=Xbar?-?μ
Ca=
=?T/2
*100%
=
USL-Xbar
3??
或
Xbar-LSL
3??
公式中:???=?标准差. T?=USL-LSL,?μ=规格中心值
Xbar?=?平均值.
USL?=?规格上限
LSL?=?规格下限.
3.4?QE?(?Quality?Engineering?)?:?质量工程.
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3.5?IQC?(?Incoming?Quality?Control?)?:?进料检验.
3.6?IPQC?(?In-Process?Quality?Control?)?:?制程检验.
3.7?MFG?(?Manufacturing?)?:制造.
3.8?时段:?每两小时表示一个时段.
3.9?PMP?(?Process?Management?Plan)?:?制程管制计划
3.10?SPC?(?Statistic?Process?Control?)?:?统计制程管制.
4.?权责:
4.1?QE:
4.1.1?负责制订及修改统计技术管理办法.
4.1.2?负责定期检讨管制上限/下限.
4.1.3?负责对统计技术之教育训练及辅导.
4.2?IQC:
4.2.1?负责数据收集,?绘制管制图.
4.2.2?当超出管制线,?CpK?值小于目标值时,?负责追踪供货商提出对策.
4.3?IPQC:
4.3.1?负责数据收集,?绘制管制图.
4.3.2?当管制点超出管制线时,?负责追踪责任单位提出对策.
4.3.3?巡回检查监督?MFG?之?SPC?执行情况.
4.4?MFG:
4.4.1?负责数据收集,?绘制管制图.
4.4.2?当管制点超出管制线时,?负责追踪责任单位提出对策.
4.5?PE?:负责协助其它各单位分析原因.
5.?参考文件:
“教育训练管理办法”?(?T1HR-2-001?).
6.?流程图:
N/A.
一一一
一一
一一一
一一一?????????/一一
PIC
1.?IQC?SIP一一一一一一一
(CHASSISRACK)
一一??????50PCS
CPK一一
IQC
一一一一
一一一一一一
Xbar-R?CHART
MFG
一一一一一一
一????一一一
一一一?????????X一
MFG
2.一一一一一一一
一一一
TREND?CHART
MFG
3.一一一一一一一一
一一一
TREND?CHART
MFG
4.一一一一一???????????????一一
一一一一一
一一
MFG
5.一一一一一
一一一
TREND?CHART
MFG
6.PCBA一一一一一一
一一一一????????????5一一一
U-CHART
MFG
7.?一一一一一一
一?6一一一一一一
一一一一????????????(一一一一????????????)
MFG
8.一一一一一一一一一一一
一一一一一
P-CHART
MFG
9.一一一一一一一一一
一?一一??????一一
TREND?CHART
IPQC
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7.?作业内容:
7.1?工厂管制点实际应用情况至少包括如下:
SPC一一一
7.2??各机种的管制点依据产品的特性及客户的要求制订7.3?在制作?PMP?时,?针对管制点必须详细的填写样品数,?频率,?记录/控制方法,?
7.2??各机种的管制点依据产品的特性及客户的要求制订
触发界限,?以便于更好的管制.
7.4?判定标准.
7.4.1 CpK〉1.67 制程能力很好,?如连续六个月?CPK1.67?则?QE?将重新审核是
否继续使用该管制方法或是否重新记算管制上下限.
7.4.2 1.67?〉CpK?〉1.33 制程能力好,?继续使用该管制方法控制.
7.4.3 1.33?〉CpK?〉1.0 制程能力尚可,?要小心留意,?如连续两个月?CPK?在
此区间则必须提出改善报告.
7.4.
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