机械精度检测与产品质量管理第9章　表面结构要求及其检测.pptVIP

第9章　表面结构要求及其检测 9.4　表面粗糙度的检测9.4.1　用光切显微镜检测表面粗糙度1.量仪介绍 光切显微镜是利用光切原理来测量工件的表面粗糙度,其评定参数为Rz,测量范围一般为Rz=0.8～80μm,测量平面和外圆表面。其外形结构如图9-32所示。 图9-32　光切显微镜外形结构图1—底座　2—立柱　3—升降螺母　4—微调手轮　5—支臂6—支臂锁紧螺钉　7—工作台　8—物镜组　9—物镜锁紧机构10—遮光板手轮　11—壳体　12—目镜测微器　13—目镜 第9章　表面结构要求及其检测 图9-33　光切显微镜光学系统1—光源　2—聚光镜　3—狭缝　4—物镜5—分划板　6—目镜测微器 2.工作原理 光切显微镜的光学系统如图9-33所示，光线经狭缝3后成一扁平光带通过物镜4，顺着加工痕迹以45°方向照射被测表面。具有微观不平的表面，被照射后分别在其轮廓的波峰s点和波谷s′点产生反射，通过物镜4，它们各成像在分划板5上的a和a′。由目镜测微器6测出aa′，即可换算其波峰至波谷的高度Yi。因为 所以 第9章　表面结构要求及其检测 图9-34　目镜测微器 由图9-34可知，测微十字线移动方向与aa′方向成45°设计。 第9章　表面结构要求及其检测 图9-4　表面粗糙度和波纹度轮廓的传输特性 第9章　表面结构要求及其检测 4.中线 具有几何轮廓形状并划分轮廓的基准线称为中线，如图9?5所示。 5.取样长度lr 测量表面粗糙度时，测量限制的一段足够短的长度，以限制或减弱波纹度、排除形状误差对表面粗糙度测量的影响（见图9?5） 6.评定长度ln 评定长度默认为5个取样长度，否则应注明个数（见图9?5） 图9-5　中线 第9章　表面结构要求及其检测 7.轮廓中线m 轮廓中线m是评定表面粗糙度数值大小的基准线。轮廓中线有两种：即轮廓最小二乘中线和轮廓算术平均中线。 (1)轮廓最小二乘中线　轮廓最小二乘中线是指在取样长度范围内，实际被测轮廓线上的各点至该线的距离平方和为最小的基准线，如图9-6所示，即 图9-6　轮廓最小二乘中线图 第9章　表面结构要求及其检测 图9-7　轮廓算术平均中线图 (2)轮廓算术平均中线　轮廓算术平均中线是指在取样长度范围内，将实际轮廓划分为上、下两部分，且使上部分面积之和等于下部分面积之和的基准线，如图9-7所示，即 第9章　表面结构要求及其检测 9.2　表面粗糙度的评定参数 国家标准规定采用中线制来评定表面粗糙度，为了定量地评定表面粗糙度，必须用参数及其数值来表示表面粗糙度的特征。9.2.1　评定参数的定义 1.轮廓算术平均偏差Ra(幅度参数) 轮廓算术平均偏差Ra是指在取样长度lr内，被测实际轮廓上各点至轮廓中线距离绝对值的算术平均值(见图9-8)，即 图9-8　轮廓算术平均偏差Ra的确定 第9章　表面结构要求及其检测 图9-9　表面粗糙度最大高度Rz的确定 2.轮廓最大高度Rz(幅度参数) 轮廓最大高度Rz是指在一个取样长度lr范围内，被评定轮廓上各个极点至中线的距离中，最大轮廓峰高Rp与最大轮廓谷深Rv之和的高度(见图9-9)，即 第9章　表面结构要求及其检测 图9-10　轮廓单元的平均宽度 3.轮廓单元的平均宽度Rsm(间距参数) 一个轮廓峰与相邻的轮廓谷的组合称为轮廓单元。轮廓单元的平均宽度Rsm是指在一个取样长度lr范围内，中线与各个轮廓单元相交线段的宽度(轮廓单元宽度Xs)的平均值(见图9-10)，即 第9章　表面结构要求及其检测 图9-11　轮廓的支承长度率 4.轮廓支承长度率Rmr(c) 轮廓支承长度率Rmr(c)是指在给定截面高度c上轮廓的实体材料长度Ml(c)与评定长度ln的比率，如图9-11所示。用公式表示为 第9章　表面结构要求及其检测 9.2.2　表面粗糙度参数值的选择 表面粗糙度参数允许值应按国家标准GB/T 1031—2009规定的参数值系列选取。轮廓算术平均偏差Ra、轮廓最大高度Rz、轮廓单元平均宽度Rsm和轮廓支承长度率Rmr（c）的参数值系列见表9?1~表9?4。 表9-1　轮廓算术平均偏差Ra的数值(摘自GB/T 1031—2009) 表9-2　轮廓最大高度Rz的数值(摘自GB/T 1031—2009) 表9-3　轮廓单元平均宽度Rsm的数值(摘自GB/T 1031—2009) 表9-4　轮廓支承长度率Rmr(c)的数值(摘自GB/T 1031—2009) 第9章　表面结构要求及其检测 第9章　表面结构要求及其检测 9.3　表面结构代号及标注 GB/T 131—2006规定了技术产品文件（图