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电容式谷物水分传感器测量的影响因素研究 刘嫣红 毛志怀 杨 柳 中国农业大学工学院（100083） email: liuyanhong@ 摘 要：本文对于影响电容式谷物水分传感器测量结果的因素--谷物孔隙率、温度、谷物品种、谷物含水率等分别进行分析和试验研究，得出了消除这些因素的方法。将这些方法运用于所研制的电容式谷物水分传感器，经过试验验证，低水分段时测量结果波动很小,可以满足干燥生产的要求。 关键词：电容式水分传感器，影响因素，电容值，谷物含水率 1. 引 言 谷物收获时一般含水率较高，容易造成谷物发热、发酵、变质和发芽率下降。为了确保谷物安全贮存，必须将收获后的谷物及时干燥，将谷物水分降至安全贮藏标准[1-2]。 可安全储存谷物的介电常数一般为2～3，水的介电常数为80.37（20℃）。电容式谷物水分传感器以谷物为介质，利用水的介电常数远高于谷物介电常数的特性来测定谷物含水率，可实现快速检测[3-7]。但电容传感器所测电容值与谷物含水率之间并不是单值函数关系， 其结果还受一系列其它因素的影响，本文对影响传感器测量结果的各个因素进行分析研究。 2. 影响因素分析 当传感器中充满流动谷物时，传感器所测电容C与谷物含水率M之间的关系式[8-9]为： C=K0eε3+K0(1?e)ε1+ 式中，K0=K0γd(1?e)(ε2?ε1)M （1） 1+M(γd?1)ε0LH D。 其中，C—传感器所测电容值； ε0—真空介电常数； M—谷物含水率；ε1—谷物中干物质的介电常数；ε2—谷物中水分的介电常数；ε3—谷粒孔隙中空气的介电常数； D—极板间距； A—极板面积，A=H×L；γd—谷物干物质的容重；e—谷物孔隙率。 由式(1)可知，传感器所测电容值与下列因素有关： ①谷物含水率M。电容值C的变化与含水率Ｍ的关系为非线性关系，对于某一种物质，其C-Ｍ曲线很难用一个简单的函数来描述。因此，电容法水分检测的非线性补偿十分重要。 ②传感器的结构参数H、L、D。对于确定的传感器，各参数均为常量，对于测量结果没 - 1 - 有影响。 ③三相物质的介电常数ε1、ε2、ε3。不同的谷物品种有不同的介电常数ε1，需对不同的谷物分别进行研究。另外，温度及电容器所加交流电场的频率也是影响这些介电常数的主要因素，对于确定的传感器，电容器所加交流电场的频率是恒定的，可不考虑该因素的影响，而温度变化引起的介电常数的变化必须要加以消除。 ④谷物孔隙率e的变化，即谷物堆积密度的变化，是影响电容传感器测量精度的主要因素，必须设法克服。 3. 影响因素的消除方法研究 3.1 谷物孔隙率 为消除谷物孔隙率变化对传感器测量结果的影响，传统的电容传感器多采用分批采样以及恒定频率压实法，这种方法可以消除谷物孔隙率变化对传感器测量结果的影响，但不能满足在线测试的需要。 为满足在线测试的需要，设计了一个 分流式取样装置，下端安装排粮轮，通过 排粮轮均匀排粮，保证恒定的孔隙率。取 样装置嵌入出粮通道中，对干燥机出粮口 的谷物进行分流，分流后的谷物一部分流 入取样装置，与安装在取样装置上的传感 器的测试表面直接接触，从而直接测出谷 物的电容值。实验装置如图1所示。 图1 实验装置图 其中，1为取样装置；2为二次侧系统；3为电容式水分传感器；4为无级变速器；5为单相电机。 在一定的温度下，谷物流速分别取为0.5m/h、1 m/h、2 m/h、3 m/h、4 m/h、5 m/h及6m/h时（该流速范围可以满足大多数粮食干燥机的流速要求），试验中观察发现：同一含水率水平下，传感器所测电容值基本恒定，不受谷物流动过程及流动速度变化的影响。因此，我们可以认为：采用图1所示取样装置，可以消除谷物孔隙率变化的影响。并且，采用上述形式的传感器安装方式，可将传感器测试表面屏蔽起来，基本上不受外界环境的干扰。 4 512 3 3.2 温度 资料分析[10]表明，电容传感器测得电容值C受温度Ｔ变化的影响很大，Ｔ升高，C变大，并且，不同温度下，C-M曲线的上升速率不同，不能平移重合。 因此，对于同一含水率的谷物，我们必须在不同温度下测量传感器电容值，以求得不同温度下谷物含水率与传感器所测电容值之间的关系曲线C-M，从而进行温度补偿。 温度补偿的具体方法是：首先判断谷物温度范围，设为T0~T1（比如15℃~20℃、20℃~25℃、25℃~30℃、30℃~40℃或40℃~50℃），然后根据T0、T1温度下的C-M 关系曲线 - 2 - 可求得水分值M0、M1，则谷物水分可由式（2）求得： M=M0+T?T0(M1?M0) （2） T1?T0 3.3 谷物品种 电容式谷物水分传感器测得电容值与谷物品种和谷物粒型[11]有关。被测样品的品种繁多，有些品种还受气候、土壤等自然条件