响应表面试验设计方法及MINITAB优化CCD BBD.pptVIP

响应表面试验设计方法及MINITAB优化CCD BBD.ppt

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响应表面试验设计及 MINITAB 优化 CCD BBD ? 响应曲面设计方法 ( Response Surface Methodology , RSM) 是利用合理的试验设计方法 并通过实验得到一定数据,采用多元二次回归方程 来拟合因素与响应值之间的函数关系,通过对回归 方程的分析来寻求最优工艺参数,解决多变量问题 的一种统计方法。 什么是 RSM ? 1 概述 ? 确信或怀疑因素对指标存在非线性影响; ? 因素个数 2-7 个,一般不超过 4 个; ? 所有因素均为计量值数据; ? 试验区域已接近最优区域; ? 基于 2 水平的全因子正交试验。 适用范围 ? 中心复合试验设计 (central composite design , CCD) ; ? Box-Behnken 试验设计; 方法分类 1. 确定因素及水平,注意水平数为 2 ,因素数一般不超 过 4 个,因素均为计量数据; 2. 创建“中心复合”或“ Box- Behnken”设计; 3. 确定试验运行顺序 (Display Design) ; 4. 进行试验并收集数据; 5. 分析试验数据; 6. 优化因素的设置水平。 一般步骤 ? 立方点 ? 轴向点 ? 中心点 ? 区组 ? 序贯试验 ? 旋转性 基本概念 2 中心复合试验设计 立方点 (cube point) 立方点,也称立方体点、角点,即 2 水平对 应的“ -1 ” 和“ +1 ” 点。各点坐标皆为 +1 或 -1 。 在 k 个因素的情况下,共有 2 k 个立方点 轴向点 (axial point) 轴向点,又称始点、星号点,分布在轴向上。 除一个坐标为 + α 或 - α 外,其余坐标皆为 0 。 在 k 个因素的情况下,共有 2k 个轴向点。 中心点 (center point) 中心点,亦即设计中心,表示在图上,坐标 皆为 0 。 三因素下的立方点、轴向点和中心点 区组 (block) 也叫块。设计包含正交模块,正交模块 可以允许独立评估模型中的各项及模块 影响,并使误差最小化。 但由于把区组也作为一个因素来安排, 增加了分析的复杂程度。 序贯试验(顺序试验) 先后分几段完成试验,前次试验设计的点上 做过的试验结果,在后续的试验设计中继续 有用。 旋转性 (rotatable) 设计 旋转设计具有在设计中心 等距点上预测方差 恒定 的性质,这改善了预测精度。 α 的选取 在 α 的选取上可以有多种出发点,旋转性是 个很有意义的考虑。在 k 个因素的情况下,应 取 α = 2 k/4 当 k=2 , α =1.414 ;当 k=3 , α =1.682 ; 当 k=4 , α =2.000 ;当 k=5 , α =2.378 按上述公式选定的 α 值来安排中心复合试 验设计 (CCD) 是最典型的情形,它可以实 现试验的序贯性,这种 CCD 设计特称中心 复合序贯设计 (central composite circumscribed design,CCC) ,它是 CCD 中 最常用的一种。 如果要求进行 CCD 设计,但又希望试验水平安排不 超过立方体边界,可以将轴向点设置为 +1 及 -1 ,则 计算机会自动将原 CCD 缩小到整个立方体内,这种 设计也称为中心复合有界设计 (central composite inscribed design,CCI) 。 这种设计失去了序贯性,前一次在立方点上已经做 过的试验结果,在后续的 CCI 设计中不能继续使用。 对于 α 值选取的另一个出发点也是有意义的,就是 取 α =1 ,这意味着将轴向点设在立方体的表面上, 同时不改变原来立方体点的设置,这样的设计称为 中心复合表面设计 (central composite face- centered design,CCF) 。 这样做,每个因素的取值水平只有 3 个 (-1,0,1) ,而 一般的 CCD 设计,因素的水平是 5 个 (- α ,-1,0,1, α ), 这在更换水平较困难的情况下是有意义的。 这种设计失去了旋转性。但 保留了序贯性,即前 一次在 立方点上已经做过的试验结 果,在后续的 CCF 设计中可 以继续使用 ,可以在二阶回 归中采用。 中心点的个数选择 在满足旋转性的前提下,如果适当选择 Nc ,则可 以使整个试验区域内的预测值都有一致均匀精度 (un

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