检测核心技术实验.docVIP

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试验五 压电式、霍尔式传感器 (二) 直流激励时霍尔式传感器位移特征试验 一、试验目标:了解霍尔式传感器原理和应用。 二、基础原理:依据霍尔效应,霍尔电势UH=KHIB,当霍尔元件处于梯度磁场中运动时,它就可 以进行位移测量。 三、需用器件和单元:霍尔传感器试验模板、霍尔传感器、直流源±4V、±15V、测微头、数显单元。 四、试验步骤: 1、将霍尔传感器按图5-2安装。霍尔传感器和试验模板连接按图5-3进行。1、3为电源±4 V,2、4为输出。 图5-2 霍尔传感器安装示意图 2、开启电源,调整测微头使霍尔片在磁钢中间位置再调整RW1使数显表指示为零。 图5-3 霍尔传感器位移 直流激励试验接线图 3、旋转测微头向轴向方向推进,每转动0.2mm记下一个读数,直到读数近似不变,将读数填入表5-1。 表5-1 X(mm) -4 -3 -2 -1 0 1 2 3 4 5 V(v) -0.15 -0.088 -0.045 -0.014 0 0.015 0.044 0.055 0.066 0.078 作出V-X曲线,计算不一样线性范围时灵敏度和非线性误差。 灵敏度s=0.0158 非线性误差f=0.0017 五、思索题: 1)本试验中霍尔元件位移线性度实际上反应是什么量改变? 答: 霍尔元件位移线性度实际上反应是磁场大小改变。 2)请思索解释本试验中“信号获取电路”原理及电路参数。 答:首先,由1、3端给霍尔元件提供4V电源,经过滑动变阻器Rw1;然后,2、4端接入输入信号,经IC放大后输出电压,输出显示。 试验六 光电和光纤传感器 (一) 光纤传感器位移特征试验 一、试验目标:了解光纤位移传感器工作原理和性能。 二、基础原理:本试验采取是导光型多模光纤,它由两束光纤组成Y型光纤,探头为半圆分布,一束光纤端部和光源相接发射光束,另一束端部和光电转换器相接接收光束。两光束混合后端部是工作端亦即探头,它和被测体相距X,由光源发出光经过光纤传到端部射出后再经被测体反射回来,由另一束光纤接收反射光信号再由光电转换器转换成电压量,而光电转换器转换电压量大小和间距X相关,所以可用于测量位移。 三、需用器件和单元:光纤传感器、光纤传感器试验模板、数显单元、测微头、直流源±15V、反射面。 四、试验步骤: 1、依据图6-1安装光纤位移传感器,二束光纤插入试验板上光电变换座孔上。其内部已和发光管D及光电转换管T相接。 图6-1 光纤传感器安装示意图 2、将光纤试验模板输出端V01和数显单元相连,见图6-2。 图6-2 光纤传感器位移试验接线图 图6-2 光纤传感器位移试验接线图 3、调整测微头,使探头和反射平板轻微接触。 4、试验模板接入±15V电源,合上主控箱电源开关,调RW使数显表显示为零。 5、旋转测微头,被测体离开探头,每隔0.1mm读出数显表值,将其填入表9-1。 表6-1光纤位移传感器输出电压和位移数据 X(mm) 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 V(mv) 0 18 51 87 117 155 192 234 278 309 6、依据表6-1数据,作光纤位移传感器位移特征,计算在量程1mm时灵敏度和非线性误差。 ①V-X曲线 ②灵敏度和非线性误差 灵敏度s=35.570% 非线性误差f=0.511% 五、思索题: 1)光纤位移传感器测位移时对被测体表面有些什么要求? 答: 要求被测表面能够反射大部分光. 2)请思索解释本试验中“信号获取电路”原理及电路参数。 答:首先Dw是产生入射光, 经运放IC1电路, 将光信号转换成电信号;然后由D送出反射回光信号,经过转换形成电信号,经过后面IC1、IC2运放和电容、电阻放大,形成能够读出电信号。 (三) 光纤传感器测速试验 一、试验目标:了解光纤位移传感器用于测量转速方法。 二、基础原理:利用光纤位移传感器探头对旋转体被测物反射光显著改变产生电脉冲,经 电路处理即可测量转速。 三、需用器件和单元:光纤传感器、光纤传感器试验模板、数显单元测转速档、直流源±15V、 转速调整2-24V,转动源单元。 四、试验步骤: 1、将光纤传感器按图4-5装于传感器支架上,使光纤探头和电机转盘平台中反射点对准。 2、按图6-2,将光纤传感器试验模板输出V01和数显电压表VI端相接,接上试验模板上±15V电源,数显表切换开关选择开关拨到2V档。①用手转动圆盘,使探头避开反射面(暗电流),合上主控箱电源开关,调整RW使数显表显示靠近零(≥0)。②再用手转动圆盘,使光纤探头对准反射点,调整升降支架高低,使数显表指示最大,反复①、②步骤,直至二者压差值最大,再将V01和转速/频率数显表Fin输入端相接,数显表波段开关拨到转速档。 3

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