演示版质谱仪的结构原理.ppt

12 100 12 100 质谱实验平台 答辩人：朱爱青 ;.; * 质谱仪 离子源 进样系统 真空系统 离子检测器 质量分析器 ;.; * 质谱仪分类 有机质谱仪 质谱仪 无机质谱仪 同位素质谱仪 ;.; * 真空系统 样品入口 检测器 数据系统 质量分析器 离子化方法 大气 质谱仪器结构 ;.; * 进样系统 离子源 质量分析器 检测器 1.气体扩散 2.直接进样 3.气相色谱 1.电子轰击 2.化学电离 3.场致电离 4.激光 1.单聚焦 2.双聚焦 3.飞行时间 4.四极杆 5.离子阱 质谱仪需要在高真空下工作：离子源（10-3 ?10 -5 Pa ） 质量分析器（10 -6 Pa ） 1．大量氧会烧坏离子源的灯丝； 2. 会使本底增高，干扰质谱图； 3．用作加速离子的几千伏高压会引起放电； 4．引起额外的离子－分子反应，改变裂解模型，谱图复杂化。 5. 干扰离子源中电子束的正常调节； 质谱分析原理 1.电子倍增器 2.闪烁检测器 3.法拉第杯 4.照相检测 真空度过低 ;.; * 一、进样系统 对进样系统的要求：重复高效、不引起真空度降低。 进样方式： 气体扩散进样 直接探针进样 色谱进样 ;.; * ;.; * ;.; * 二、离子源（Ion source） 离子源的作用是将被分析的样品分子电离成带电的离子，并使这些离子在离子光学系统的作用下，会聚成有一定几何形状和一定能量的离子束，然后进入质量分析器被分离。 离子源 硬源 电离能量大 软源 电离能量小 ;.; * 离子源（Ion source） 1. 电子电离源（Electron Ionization EI） 2. 化学电离源（Chemical Ionization , CI） 3. 快原子轰击源（Fast Atomic bombardment， FAB） 4．电喷雾源（Electron spray Ionization，ESI） 5．大气压化学电离源（APCI） ;.; * 固体样品 液体样品 气体样品 EI CI APCI MALDI ESI APPI 转化成溶液 转化成固体 转化成气体 根据待分析物的化学性质 根据待分析物的化学性质 离子源——将待分析样品电离，得到带有样品信息的离子 ;.; * ;.; * EI源 气相离子源 ;.; * 采用高速(高能)电子束冲击样品，从而产生电子和分子离子M+： M + e → M+ + 2e 高能电子束产生的分子离子M+的能态较高的那些分子，将进一步裂解，释放出部分能量，产生质量较小的碎片离子和中性自由基： M+ M1+ + N1· M2+ + N2 · EI源 ;.; * 水平方向：灯丝与阳极间(70V电压)—高能电子 — 冲击样品—正离子 垂直方向：G3-G4加速电极(低电压)—较小动能—狭缝准直—G4-G5加速电极(高电压)—较高动能—狭缝进一步准直—离子进入质量分析器。 特 点： 使用最广泛，谱库最完整；电离效率高；结构简单，操作方便；但分子离子峰强度较弱或不出现(因电离能量最高)。 加速 加速 聚焦 EI源 ;.; * 在电子轰击下，样品分子可能有四种不同途径形成离子： 样品分子被打掉一个电子形成分子离子。 分子离子进一步发生化学键断裂形成碎片离子。 分子离子发生结构重排形成重排离子。 通过分子离子反应生成加合离子。 此外，还有同位素离子。 EI源 普通的气相 易挥发有机物 不稳定 的化合物 70ev 标准质谱图 1020ev 灵敏度降低 加大进样量 非标准质谱图 ;.; * CI源 不稳定的化合物 反应气体 氨 异丁烷 甲烷 在质谱中可以获得样品的重要电子 轰击产生的M+峰，往往不存在或其 强度很低，必须采用比较温和的电 离方法。 引入 比例为1:10000 真空度：1.3×102～ 1.3×103Pa ;.; * 样品分子在承受电子轰击前，被一种反应气体(通常是甲烷)稀释，稀释比例约为104:1，因此样品分子与电子的碰撞几率极小，所生成的样品分子离子主要经过离子-分子反应组成。 在电子轰击下，甲烷首先被电离： CH4+ →CH4+＋CH3+＋CH2+＋CH+＋C+＋H+ 甲烷离子与分子进行反应，生成加合离子： CH4+＋CH4 →CH5+＋CH3