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3.图形制作： ①移动全距的计算：Ri=|Xi-X（I-m）| ； 当I-m〈1时 ，Ri=|SL-Xi| 移动位置值m：指组距Ri要用当前一个数据减去前面第n个位置的数据。通常是由产品的相关性来定的。 如果是前后点有相关性， 则 m=1； 如果是前后两点间有相关性，则 m=2。 ②计算各中心线及管制上、下限 X = 个别值管制图：XUCL= XCL = Rm= XLCL= 移动全距管制图： RmUCL= RmCL = RmLCL= 〈例5〉 4.图形分析：同Xbar-R分析方法。 * 精品PPT·借鉴参考 案例 * 精品PPT·借鉴参考 X-Rm 管制图 检验站别：PQC - 1 ? 页次：1/1页 产品名称：211芯片 产品编号：B34223 -221 管制特性：厚度 分析时间：2001/11/1~2001/11/15 样本数:1 规格上限：3.1 规格下限：2.9 规格水准：3 ? USL SL LSL XUCL XBAR XLCL RmUCL RmBAR RmLCL Ca Cp Cpk PPM ? ? 3.1 3 2.9 3.141 3.012 2.883 0.123 0.045 0 0.12 0.638 0.621 23054 组数 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 X值 2.95 3.04 3.01 2.97 3.07 3.05 3.09 3.08 3.01 3.06 3.02 2.98 2.96 2.97 2.92 全距 0.08 0.05 0.07 0.1 0.11 0.1 0.198 0.07 0.2 0.1 0.2 0.4 0.03 0.05 0.02 标准差 0.05 0.09 0.03 0.04 0.10 0.02 0.04 0.01 0.07 0.05 0.04 0.06 0.02 0.01 0.05 * 精品PPT·借鉴参考 计数值型控制图 （五）P-chart 不良率管制图 1.意义：利用管制图的原理对产品不良率进行管制，是SPC计数值型最常用最主要的分析图之一。 特点： ①可以掌握某产品或类别或生产线等取样母体的不良率状况，了解本系统在正常情况下的不良状况，有助于做成本分析； ②对于突发事件（特殊原因）影响程度及时了解； ③便于预测下一阶段的不良率。 * 精品PPT·借鉴参考 一般应用在如下场合： 单个产品在某一工序的不良率 单个产品在某几工序的不良率 多个产品在某同一工序的不良率 多个产品在某同几工序的不良率 单个客户某一产品的不良率 单个客户部分产品的不良率 单个客户全部产品的不良率 多个客户同一产品的不良率 关键原料各供货商所供产品的不良率 关键原料部分供货商所供产品的不良率 * 精品PPT·借鉴参考 同一产品在不同部门或生产线的不良率 同一部门或生产线生产不同产品的不良率 不同班次所生产产品不良率 某些班次所生产产品不良率 不同检验人员所检验的不良率 某些检验人员所检验的不良率 不同时期限的不良率 不同机台的生产的不良率 等等 一般应用在如下场合： * 精品PPT·借鉴参考 2.图形制作： ①计算管制中心线 CL=Pbar=不良数之和/检验数之和 ②计算管制上、下线 a. 各组检验数相同，有两种算法： 第一种（原理法）： UCL= LCL= 第二种（经验法）： 注：当LCL计算出来曾负数时，应改为0。 P-chart 各组检验数相同 各组检验数相差较大 各组检验数相差不大 各组检验数不同 * 精品PPT·借鉴参考 b. 各组检验数不同： 第一种：各组检验数相差较大,最大检验数与最小检验数之间超过20% CL = UCLi= LCLi= 其中：UCLi、LCLi:表示对应第I组数据的管制上、下限。 注：各点管制界限不一定相同。 第二种：各组检验数相差较小，低于20%时 UCL= LCL = 注：各点管制界限默认近似相等。 〈例6〉 2.图形制作： * 精品PPT·借鉴参考 * 精