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?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * 判异规则（一） 点出界就判异 如上图第四点已超出UCL，故判断过程异常。为什么？若过程正常，则点子超出UCL的概率为0.135%。若过程异常，?值增大，分布曲线整体上移，则点子超出UCL的概率大大增加，可能是的几十倍、几百倍。在这两种可能性中选择一种，当然选择过程异常。 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * 判异规则（二） 两种错误 虚发警报(false alarm)：过程正常，但样本正好抽到0.135%处，根据判异规则判定过程异常。通常这种错误的概率记为?。 漏发警报(alarm missing):过程异常，但样本正好抽到仍位于控制界限以内，根据判异规则判定过程正常。通常这种错误的概率为? 。 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * 判异准则 Criteria for abnormality 点出界就判异； 虽然点均未出界，但界内点排列不随机就判异； 第二条准则的具体模式理论上有无穷多种，但具有实际物理意义并被广泛使用的有少数几种。 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * 常规休哈特控制图 数据特征 分布 控制图 简记 备注 计量值 正态分布 均值—极差控制图 X-R 可取消 均值—标准差控制图 X-S 中位值—极差控制图 X-R 可取消 单值—移动极差控制图 X-Rs 计件值 二项分布 不合格品率控制图 p 不合格品数控制图 np 计点值 泊松分布 单位不合格数控制图 u 不合格数控制图 c ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * 控制图选用程序 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * 计数型数据的控制图 准备工作 建立一个好的行动环境 定义过程 确定要管理的特性 应考虑 顾客的需求 当前及潜在的问题领域 特性之间的关系 定义测量系统，使之具有可操作性 使不必要的变差最小 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * 计数型数据控制图的种类 不合格品率p控制图 不合格品数np控制图 不合格数c控制图 单位不合格数u控制图 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * 不合格率的p图 数据收集 选择子组的容量、频率和数量 子组容量(n=50~200) 分组频率 子组的数量(25) 计算每个子组的不合格率（p） 记录每个子组的下列值 被检项目的数量——n 发现的不合格项目——np 计算不合格率p=np/p 选择控制图的坐标刻度（1.5~2倍） 将不合格品率描绘在控制图上 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * 不合格率的p图 计算控制界限 计算过程平均不合格品率 P= 计算上、下控制界限（UCL、LCL） UCL=p+3 LCL=p- 画线并标注 过程平均——水平实线 控制线路（UCL、LCL）——水平虚线 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * ?、?变化示意图 时间 特性值 ?不变 ?倾向性变化 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * ?、?变化示意图 时间 特性值 ?不变 ?无规律变化 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * ?、?变化示意图 时间 特性值 ?规律性变化 ?不变 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * ?、?变化示意图 时间 特性值 ?无规律变化 ?不变 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * ?、?变化示意图 时间 特性值 ?无规律变化 ?无规律变化 raozhong@163.net raozhong@163.net raozhong@163.net raozhong@163.net raozhong@163.net raozhong@163.net raozhong@163.net raozhong@163.net raozhong@163.net raozhong@163.net raozhong@163.net ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * SPC培训教程 一、持续改进及统计过程控制概述 二、SPC基础 三、计数型数据控制图 ?John Z. Rao 2001 raozhong@163.net * 产品质量波动及其统计描述 产品质量特性 定性 定量 连续 离散 计量值 计数值 计件值 计数值 ?John