数字电路组合逻辑电路设计实验报告.pdfVIP

. . . . . . 实验三 组合逻辑电路设计 （含门电路功能测试） a. .. . . . . . . . 一、实验目的 1.掌握常用门电路的逻辑功能 2.掌握小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法 3.掌握组合逻辑电路的功能测试方法 二、实验设备与器材 Multisim 、74LS00 四输入 2 与非门、示波器、导线 三、实验原理 TTL 集成逻辑电路种类繁多， 使用时应对选用的器件做简单逻辑功能检查， 保证实验的顺利 进行。 测试门电路逻辑功能有静态测试和动态测试两种方法。 静态测试时， 门电路输入端加固定的 高（ H ）、低电平，用示波器、万用表、或发光二极管（ LED ）测出门电路的输出响应。动 a. .. . . . . . . . 态测试时，门电路的输入端加脉冲信号，用示波器观测输入波形与输出波形的同步关系。 下面以 74LS00 为例，简述集成逻辑门功能测试的方法。 74LS00 为四输入 2 与非门，电路 图如 3-1 所示。 74LS00 是将四个二输入与非门封装在一个集成电路芯片中，共有 14 条外 引线。使用时必须保证在第 14 脚上加 +5V 电压，第 7 脚与底线接好。 整个测试过程包括静态、动态和主要参数测试三部分。 表 3-1 74LS00 与非门真值表 A B C 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 1.门电路的静态逻辑功能测试 静态逻辑功能测试用来检查门电路的真值表， 确认门电路的逻辑功能正确与否。 实验时， 可 将 74LS00 中的一个与非门的输入端 A 、B 分别作为输入逻辑变量，加高、低电平，观测输 出电平是否符合 74LS00 的真值表（表 3-1 ）描述功能。 测试电路如图 3-2 所示。试验中 A 、B 输入高、低电平，由数字电路实验箱中逻辑电平产生 电路产生，输入 F 可直接插至逻辑电平只是电路的某一路进行显示。 a. .. . . . . . . . 仿真示意 2. 门电路的动态逻辑功能测试 动态测试用于数字系统运行中逻辑功能的检查， 测试时， 电路输入串行数字信号，