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第三章 定性半定量分析 定性分析 ? 定性分析是用测角仪进行角度扫描，通过晶体对 X 射 线荧光进行分光，记录仪记录谱图，再解析谱图中的谱线 以获知样品中所含的元素。 ? 莫莱斯定律是定性分析的基础，它指出了特征 X 射线的 波长与元素原子序数的一一对应关系。 ? 目前绝大部分元素的特征 X 射线均已准确测出，新型的 X 射线荧光光谱仪已将所有谱线输入电脑储存，扫描后的 谱图可通过应用软件直接匹配谱线。 定性分析 X 射线荧光的光谱单纯，但也有一些干扰现象，会造成 谱线的误读，即使电脑也不例外，因此在分析谱图过程中 应遵守以下的 X 射线规律特点，对仪器分析的误差进行校正。 ? 每种元素的一系列波长确定的谱线，其强度比是确定的，如 Mo 的特征谱线 K 系的 K α 1 , K α 2 , K β 1 , K β 2 , K β 3 , 它们的强度比是 100 ∶ 50 ∶ 14 ∶ 5 ∶ 7 。 ? 不同元素的同名谱线，其波长随原子序数的增大而减小。（这是 由于电子与原子核之间的距离缩短，电子结合得更牢固所致） ? 判断一个未知元素的存在最好用几条谱线，如 K α , K β ，以肯定元 素的存在。 ? 应从峰的相对强度来判断谱线的干扰情况。若某一强峰是 Cu K α , 则 Cu K β 的强度应是 K α 的 1/5 ，当 Cu K β 的强度很弱，不符合上述 关系时，可能有其它谱线重叠在 Cu K α 上。 半定量分析 为什么会出现半定量分析？ ? 层出不穷的新材料需要进行成分剖析，而传统的湿化学 法既费时又费力。 ? 有关工业废弃物中有害元素的立法，增加了对快速半定 量分析的方法需求。 ? 非破坏分析的要求增加，又无合适的标准样品可用。 ? 用户对半定量分析结果已感满足，无须再做进一步的精 密定量分析。 半定量分析软件的发展 § 1989 年， UniQuant 首先问世，作为新一代半定量分析 软件。 § 之后，各 XRF 制造商陆续推出各自的半定量分析软件 ，如 SemiIQ, ASQ, SSQ 等。 Philips 公司在 SemiIQ 无标 样软件基础上，开发出最新的 IQ + 无标样定量分析软件 。 § 这些软件的共同特点是：所带标样只需在软件设定时 使用一次；分析试样原则上可以是不同大小，形状和形 态；分析元素范围 9 F — 92 U ；分析一个样品的时间是 15- 30 分钟。 用 IQ + 软件半定量分析样品过程 半定量分析 o 对未知样进行全程扫描 o 对扫描谱图进行 Search and Match （包括谱峰的识别， 背景扣除，谱峰净强度计算，谱峰的匹配） o 输入未知样的有关信息 ( 金属或氧化物；液体，粉末压 片或熔融片；已知浓度组分的输入；是否使用膜校正和 充氦系统；是否归一 ) o 进行半定量分析 定性分析和半定量分析不需要标准样品，可以进行非破坏分析。 半定量分析的准确度与样品本身有关，如样品的均匀性、块状样品表 面是否光滑平整、粉末样品的颗粒度等，不同元素半定量分析的准确 度可能不同，因为半定量分析的灵敏度库并未包括所有元素。同一元 素在不同样品中，半定量分析的准确度也可能不同。大部分主量元素 的半定量分析结果相对不确定度可以达到 10% （ 95% 置信水平）以下， 某些情况下甚至接近定量分析的准确度。 半定量分析适用于：对准确度要求不是很高，要求速度特别快 （ 30min 以内可以出结果），缺少合适的标准样品，非破坏性分析等 情况。 定性半定量分析 第四章 定 量 分 析 X 射线荧光光谱分析 Which elements are present? What are their concentrations? 第一章 X 射线荧光光谱基本原理 X 射线的发现、应用 X 射线简介 ? X 射线是原子内层电子在高速运动电子的 冲击下产生跃迁而发射的光辐射，波段在 10 -3 -10nm 。 ? X 射线光谱分为连续光谱和特征光谱。 特征光谱的产生 高能量粒子与原子碰撞，将内层电子逐出，产生空穴 , 此空穴由外层电子跃入，同时释放出能量，就产生具有 特征波长的特征光谱。 特征 X 射