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类别:分析化学
作者:
胡娟唐江宏马军营 赵干卿
关键词:1-氨基-2-萘酚4磺酸,SiO2测定,精盐水,糊精增敏,分光光度法
【内容】
离子膜法制碱工艺中,进入电解槽的盐水质量是这项技术的关键,其对离子膜的寿 命?槽电压和电流效率及产品质量有着重要的影响 ?盐水中含有钙?镁?锶?铝?铁?
亚硫酸根等杂质,当它们以离子形态进入膜中时,就会以金属氧化物?硫酸盐或硅酸 盐的形式沉积在膜上,加速膜的老化,严重地影响产品质量,造成较大的经济损失?例 如硅本身是无害的,但当硅与钙?锶?铝等离子共存时,就会引起电流效率的下降[1]? 按照国家标准(GB-9742-88),样品中可溶性硅酸盐测定的通用方法是以氯化亚锡为 还原剂的硅钼蓝比色法[2]?由于以氯化亚锡为还原剂所产生的硅钼蓝,稳定时间短, 并且反应的酸度及环境的温度对此影响很大,反应条件不易控制,测定结果的精密 度和准确度都难以保证,本文采用氨基萘酚磺酸与亚硫酸钠的混合物作为还原剂的 硅钼蓝光度法进行离子膜法制碱过程中精制盐水杂质 SiO2的中控分析,SiO2含量
在0~1.0mg/L范围内遵守比尔定律,测定的RSD和样品的平均回收率分别为
0.11%和99.93%,结果令人满意?
1实验方法
1.1方法原理 在pH值约1.3时[3],钼酸铵与硅酸反应,生成黄色可溶性硅钼杂多酸配合物,硅钼酸 根具有很高的氧化活性,能将1-氨基-2-萘酚-4-磺酸等还原剂氧化,本身还原为钼蓝 ?在一定范围内,溶液的蓝色深度与二氧化硅的浓度成正比,配合物的最大吸收波长 为
824.22nm其吸收光谱见图1?反应如下:
Si Os + 1 2 Mo or *4丽「+22厂
(NHJZ( Mq3 Oi0) L
Red
(NH.)4 S( MO3 o, J j―
3MQiO-2MoO +( N凡+2NHJ +H H20.
1试剂〔水播比} ;2钳蓝〔试剂掺比}
图i吸收光谱曲銭
1.2仪器与试剂
1.2.1仪器
GBC916型紫外一可见分光光度计(澳大利亚GBC公司,波长扫描范围为
190~10OOnm);pHS-3B型精密酸度计(上海雷磁仪器厂);所用烧杯?移液管?容量瓶等 均为聚乙烯制品(日本NIKCO-CO.TCD),由日本旭硝子株式会社提供?
1.2.2试剂
SiO2标准溶液[国家标准物质中心 HBW(E)080272100mg/mL(以SiO2计)];50g/L钼 酸铵溶液;混合还原剂:50g/L亚硫酸氢钠溶
液,7g/L无水亚硫酸钠溶液,1.5g/L1-氨基-2-萘酚4磺酸溶液,按2 : 1 : 1混合而成;
其它试剂:3g/L草酸钠-盐酸(GR,5+1)溶液,氯化钠(基准试剂);实验用水为石英亚沸 二次水?
2结果讨论
2.1标准曲线的绘制
用6个150mL聚乙烯烧杯,每个加入3.3g氯化钠,加30mL水溶液,分别加入质量浓 度为100mg/L的二氧化硅标准溶液 0?0.2?0.4?0.6?0.8?1.0mL,用pH值计指示溶液 的pH值,在不断搅拌下滴加盐
酸-草酸溶液,酸化至pH值为1.3(严格控制),加入2mL钼酸铵溶液,放置5min,加入 5mL还原剂,再放置5min,然后将溶液移入100mL容量瓶,加水至刻度,摇匀?放置 10min后,以试剂为空白,用2cm比色皿,在分光光度计上测量其824.4nm处的吸光 度?根据SiO2含量与吸光
度的关系绘制标准曲线,见图2?试验条件下,SiO2含量在 0.02~1.0mg/L范围内符合比尔定律,所得回归方程
C=-0.034+1.94A(C:mg/L),相关系数 r=0.9996?
0. 4肌1
区 200
D ODD
1 J S 1 1
o.loo 0, too o 6C0 n.son i.nno
图2 SiJ标准曲线
2.2共存离子的影响
取0.40mg/LSiO2标准溶液进行测定 考察了共存离子的影响情况,当测定相对误差 小于10%时,二次精制盐水指标中,共存离子在其最咼允许含量
p (Al3+)=(mg/L)[ p (Fe3+)=44, p (Ni2+)=22, p (Ca2++Mg2+)=22, p (S叶)=55, p (Ba2+)=110, 550, p
p (Al3+)=
4)=3300]时均不干扰测定?加入草
酸能破坏磷钼酸,在测定条件下,0.8mg/L磷酸盐不干扰测定?
2.3仪器测量参数
通过试验,确定测量仪器的最佳参数如下所示:
测量方式Abs
扫描波长 930.0~700.0nm
扫描速度3000.0nm/mi n
2.4样品测定
准确量取lO.OOmL盐水试样于150mL聚乙烯烧杯中 加入20mL水,以酸度计指示 pH值,用H2C2O2-HCI混酸溶液调节pH值到1.3,
以后操作步骤同标准曲线的绘制,根据
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