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学习好资料欢送下载吸取限 λ k :把物质得原子内部电子击出(原轨道)所必要得入射光最长波长;短波限 λ 0: 在对 X 射线管施加种种管压下得一连谱都存在一个最短得波长值λ 0;K α :电子由 L→ K 跃迁所引起
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吸取限 λ k :把物质得原子内部电子击出(原轨道)所必要得入射光最长波长;
短波限 λ 0: 在对 X 射线管施加种种管压下得一连谱都存在一个最短得波长值
λ 0;
K α :电子由 L→ K 跃迁所引起得
K 系辐射;
K 系辐射;
K β :电子由 M →K
光电效应: 入射特性
跃迁所引起得
X 射线与物质内层
(K 层 )作用后将其击出,之后高能轨道电子跃迁,随
之开释出二次特性
射线得征象;被击出得电子叫光电子;
X
荧光 X 射线(二次特性
X 射线): 由 X 射线引发产生得特性
X 射线;
射线又由其能量通报给高能轨道
俄歇效应: 入射 X 射线引发原子产生荧光
得电子,将其击出得征象; 光电子: 光电效应击出得电子;
X 射线;荧光
X
俄歇电子: 电子束轰击样品外表电子跃迁产生具有特性力学得粒子;
干预面: 面间距为 1/n 得现实上存在或不存在得假象晶面(
干预指数: 干预面所对应得面指数;
衍射角: 2θ , x 射线产生衍射后改变偏向得角度; 多重性因子: 晶面间距雷同,晶面上原子分列纪律雷同得晶面,
HKL );
布局因子: 定量表征原子排布以及原子种类得衍射强度影响纪律得参数;
体系消光:因原子单晶体中位置差别货原子种类差别而引起得某些偏向上得衍射线消散得现 象;
θ— 2θ 连动: 机器连动时样品样品台转过
面得入射角常常即是反射角;
θ角时计数管转 2θ 角,使 X 射线在板状试样表
一连扫描丈量法:
将计数器毗连到计数率仪上,计数器由
2θ 靠近 0°(约 5° ~6°)处开
始向 2θ 角增大得偏向扫描;
门路扫描丈量法:
将计数器转到肯定得
2θ角位置牢固不动,通过定标器,接纳定时计数法
或定命计时法,测定计数率得数据;
物相阐发: 凭据 X 射线在晶体上产生得带有晶体特性得衍射把戏,
阐发衍射线条得位置颠末
肯定得处置确定物相为什么;凭据衍射线条得位置与强度可以确定物相有几多;
0°— 45°法: 利用应力仪检测,改变选取得应变偏向与试样外表法线之间得夹角
Ψ,在试
2
样中 Ψ 常选取 0°, 15°, 30°,45 °,丈量衍射角 2θ ,绘制 2θ -sin
Ψ 得干系图,由直线
斜率得出 σФ ,这就为通称得
sin2 Ψ ;
消像散器: 电磁透镜在制造历程中已存在固有得相散,
,可以通过引入一个强度与方位都可
以调治得改正磁场去举行赔偿,这个改正磁场得装置就为消像散器;
景深: 当像平面牢固时,维持清楚物象条件下答应物平面沿透镜主轴移动得最大间隔; 焦长: 透镜像平面答应得轴向毛病即为透镜得焦长;
电子枪: 透射电子显微镜得电子源,由发夹形钨丝阴极、栅极帽与阳极构成;
物镜光阑:
选区光阑: 明场成像: 像; 暗场成像:
又称衬度光阑,常被安顿在物镜后焦面上;
又称场限光阑或视场光阑,使电子束只能通过光阑孔限定得微区; 把这种让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到得图像衬度得要领叫明场成
把透射束挡掉,让衍射束通过物镜光阑得到得图像衬度丝袜要领,叫暗场像;
透射电镜辨别率决定于物镜,最优可到达
质厚衬度: 由于样品差别地区厚度或原子序数 底片上得电子束存在差别而产生得衬度;
0.1nm;
(密度) 存在差别,使得透射过样品并辐照到
衍射衬度: 由于样品中差别位向得晶体得衍射条件
度;
(位向) 差别而造成得衬度差别叫衍射衬
学习好资料欢送下载投影:在中央复型上举行碳复型时,为呢增长衬度可在倾斜15~45 得偏向上喷镀一层重金属,此历程称为投影;复型: 用复型质料对样品外表举行复制; 消光间隔: 震荡得深度周期叫做消光间隔; 磁转角:电子束在镜筒中为按螺旋线轨迹前行得, 电子通过这段间隔为会转过肯定得角度,叫做磁转角有用相机常数: K= λ L ;衍射斑点到物镜得一次像之间有一段间隔,ψ ;选取电子衍射: 为呢降服
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投影:
在中央复型上举行碳复型时,为呢增长衬度可在倾斜
15~45 得偏向上喷镀一层重金
属,此历程称为投影;
复型: 用复型质料对样品外表举行复制; 消光间隔: 震荡得深度周期叫做消光间隔; 磁转角:电子束在镜筒中为按螺旋线轨迹前行得, 电子通过这段间隔为会转过肯定得角度,叫做磁转角
有用相机常数: K= λ L ;
衍射斑点到物镜得一次像之间有一段间隔,
ψ ;
选取电子衍射: 为呢降服相机常数与磁转角不确定性,
充实发挥电子显微镜可以同时表现形
貌图像与阐发晶体布局得良好性,
射;
常在物镜平面内
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