超声检测技术教案4-2超声探伤仪的调节.docVIP

课 题 超声探伤仪的调整（4学时） 目 的 与 要 求 掌握超声检测探伤仪的调整方法。 重 点 时基线的调节、检测灵敏度的调节、DAC曲线的绘制，斜探头入射点和K值的测量 难 点 横波斜探头检测技术检测时基线的调节 教 具 多媒体 复 习 提 问 无 新知识点考查 纵波直探头检测技术和横波斜探头检测技术对检测设备的调整 布置 作业 补充：习题册 课后回忆 备注 教员 教研室 主任批阅 系部审 查意见 知识能力三 超声检测仪的调整 一、纵波直探头检测技术检测设备的调整 调整内容：a.仪器的扫描速度（时基线）调整； b.检测灵敏度调整。 调整目的：保证在确定的检测范围内发现规定尺寸的缺陷，并确定缺陷的位置和大小。 1. 时基线的调整 1）调整目的： = 1 \* GB3 ①使水平扫描线显示的范围足以包含需检测的深度范围； = 2 \* GB3 ②要使时基线刻度与在材料中声传播的距离成一定比例，以便准确地读出缺陷波的深度位置；要将声程零位调整到与时基线刻度线对齐，以便于读数。 调整内容： = 1 \* GB3 ①根据所需扫描声程范围确定扫描速度（时基扫描线比例）； = 2 \* GB3 ②零位调节，将声程零位设置在选定的水平刻度线上。 2）基本概念： = 1 \* GB3 ① 扫描速度：荧光屏上时基线的水平刻度值t（格）与实际声程 x(mm)的比例关系，称为扫描速度。即（n的大小根据探测范围来确定）。 = 2 \* GB3 ② 零位校准：使荧光屏上水平刻度零点与声束入射点相重合的调节仪器的过程就是零位校准。 经过零位校准,始波的前沿位置并不在荧光屏上水平刻度的零点,而是向左边有一定的偏移。 调节的基本方法 利用试块或试件上已知声程（深度）的两个反射信号，通过调节仪器上的扫描范围和延迟旋钮，使两个信号的前沿分别位于与其声程相应的水平刻度值处。 用于调节的两个已知声程的信号可以是与试件同材料的试块，也可以是试件本身已知厚度的平行面。 注意事项： = 1 \* GB3 ①调节时基线用的试块应与被检材料具有相同的声速，否则调定的比例与实际不符。 = 2 \* GB3 ②不能利用始波和一个反射波进行调整，以始波作为声程为0的信号，因为需排除一些声波进入试件前在保护膜、耦合剂、斜楔等中经过的时间。 = 3 \* GB3 ③所选定的调节比例既要保证最大探测深度可在屏幕上显示出来，又要充分利用时基线范围，使回波尽可能在屏幕上展宽，便于清晰观察。在实际检测时，通常使探测范围占据水平基线的80%~100% 2. 检测灵敏度的调整 1）调整目的：是要使仪器设置足够大的增益，以保证规定的信号在屏幕上有足够的高度，以便于发现所需检测的缺陷。并对缺陷定量。 2）基本概念：在确定的声程范围内发现规定大小缺陷的能力。一般根据产品技术要求或有关标准确定。 3）调节方法: = 1 \* GB3 ① 试块比较法 对于厚度x3N 的试件，只能采用试块比较法。 a．基本方法：根据工件的厚度和对灵敏度的要求选择相应的试块。将探头对准试块上的人工反射体，调整仪器，使示波屏上人工反射体的最高反射回波达到基准高度。 b．试块选择： ※若检测用试块的平底孔埋深与检测范围上、下限不完全一致，则可选一块埋深比上沿深度略小和另一块埋深比下沿深度略大的试块代替。 ※对于厚度较大的试件，若上表面允许盲区较大，则在已知探头的距离幅度特性的情况下，也可仅采用一个埋深与厚度相近的平底孔试块，将平底孔反射波高调到荧光屏的规定高度。 ※试块的表面状态和材质衰减应与受检件相近，必须测定因两者的差异引起的反射波高差值，以对检测灵敏度进行补偿。这一过程称为传输修正。 ※调节完灵敏度之后，还需确认此时的近表面分辨力是否满足上表面盲区的允许值，即能否保证检测范围上沿所对应的信号的清晰分辨。 = 2 \* GB3 ② 试块计算法 对于厚度x≥3N 的试件，可选用一块材质与试件相同的平底孔试块（孔埋深xj≥3N）来调节不同试件的检测灵敏度。 a．基本方法：调节时要计算试块基准平底孔与检测灵敏度所要求埋深与孔径的平底孔的回波声压分贝差，在将基准平底孔回波调至荧光屏上规定高度以后，再用衰减或增益旋钮调节相应的增益量，所以，称为试块计算法。 b．物理基础：不同直径不同埋深的平底孔反射回波的声压分贝差为： DdB即为检测灵敏度的调节量，计算值为负值时需要在基准的基础上提高灵敏度，计算值为正值时需要在基准的基础上降低灵敏度。 = 3 \* GB3 ③ 底波计算法 对具有上下平行的表面，且底面比较平整、厚度x≥3N 的试件，可采用底波计算法调节检测灵敏度，简称底波法。 a．基本方法：用底波法调节检测灵敏度，以试件大平底面作为基准反射体，计算大平底反射与检测灵敏度所要求孔径的平底孔的回波声压分贝差。底波法不需要试块