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CPK 教育訓練課程大綱何謂品質?SPC概論:一般簡介:製程能力分析:Cpk概論:一.何謂品質1.從製造面看品質2.從生產技術面看品質3.從品管面看品質4.從顧客面看品質5.從設計面看品質6.全面品質管理TQM(Total Quality Management)二.統計製程管制1.統計(Statistics):搜集,整理,分析,解釋數據,以小看大,並做成結論.SPC(Statistical Process Control)2.統計製程管制:依計劃收集製程連續數據資料,提供各種統計分析及管制圖之處理,計算,圖示與列表,以達成預防,避免不良的管制要求.3.統計方法:設計抽樣計畫,由樣本推測母體.三.一般簡介1.數據分類(Data Category)計量值(Variables):連續性,即兩數值間有無限可能數字.計數值(Attributes):間斷性,即兩數值間只容許有限可能數字.2.名詞介紹:批(Lot):在相同條件下生產之一群東西的集合.樣本(Sample):要研究某種特性的部分個體之集合.不良率P=d/n=不良數/檢驗數良品率=1-不良率.影響度=(不良各數/不良總數)*100%.PPM(Parts Per Million):每百萬個單位的不合格數..三.製程能力分析所謂製程能力是指製程的均一性,而製程能力分析就是逐步設法減少製程中的變異使製程能符合要求或規格.EX:設備不穩定,不合理公差,製程變異大,零件變異大,操作錯誤,測定偏差.四.Cpk概論SU:產品之規格上限.SL:產品之規格下限.u:規格中心值.X:平均數=?X/n,所有數據集合之重心.?:標準差= ?(X-X)2/n 所有數據點與平均數之平均距離.公差概述1.平衡公差:18.0 +-0.5.2.不平衡公差:18.0 +0.5–0.2 or 18.0 +0.3 –0.53.單向公差:18.0 +0.2+0.8 or 18.0 -0.3 -0.94.單邊公差:30以上,15以下5.T:規格公差=規格上限-規格下限 Capability of PrecisionCp:製程精密度:表示製程特性的一致程度,值越大越集中.Cp=規格公差/6個標準差 =T/6?(雙邊規格)Cp=(SU-X)/3? (單邊規格)Cp=(X-SL)/3? (單邊規格)Capability of AccuracyCa:製程準確度:表示製程特性中心位置的偏移程度.Ca=(平均數-規格中心值)/規格公差 的一半*100% =((X-u)/0.5T)*100%Capability of ProcessCpk:製程能力指數:即同時考慮偏移及一致程度.Cpk=製程精密度 (1-/製程準確度/) =Cp(1-/Ca/)某物件產品規格為18+-0.5m/m.抽測值如下:求Cp,Ca,Cpk各值?18.4,17.6,17.9,18.3,18.2,17.7,18.5,18.0,18.1 18.3Ans:1.平均數X=(18.4+17.6+…….18.3)/10=18.12.規格公差T=18.5-17.5=13.標準差? = (18.4-18.1)2+(17.6-18.1)2+...(18.3-18.1)2 10 = 0.08=0.282844.Ca=(18.1-18.0)/0.5=0.2Cp=1/(6*0.282844)=0.589Cpk=0.589*(1-0.2)=0.4714檢討與建議:1……….2……...3……...若上述問題無法改善要使Cpk合乎要求則:1.公差訂定為何?2.以新公差算Cp,Ca,Cpk各值!Cpk AQL 之比較1.AQL 依抽樣計劃檢驗規格公差內 即判定OK.2.Cpk 依 Lot or 交貨批量執行 30 PCS 量測,Cpk值需達1.33以上.3.製程能力需達 4 ? 以上.4.良品率 99.993 以上.5.63 ppm 以下.EX二:某產品數據收集如下.測定值(n=100)問題研討平均數X=1.404 標準差?=0.0481.規格值訂定=2.規格下限值SL=3.規格上限值SU= 4.規格公差值訂定=5.Cp=SU-SL/6?=6.Ca=(X-u)/0.5T=7.Cpk=Cp(1-/Ca/)=Cp/Ca/Cpk等級對照Cpk/?/PPM 對照Cpk/?/PPM 對照Cpk的應用Ca0%實績中心與規格中心不合需調整刀具或模具.Cpk 2.0製程能力太高,可縮小規格或尋求降低成本.1.67=Cpk=2.0理想狀況保持.1.33=Cpk1.67進行工作及品質改善.1=Cpk1.33確實進行工作及品質改善.Cpk1積極採取措施,全檢分析原因.CPK兩大核心議題1.平均數X:看數據的中心, 即集中趨勢.2.標準差?:看數據的分佈, 即離散趨勢.Cpk精神
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