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当子组容量发生变化时： 抽样频率与过程特殊原因出现的频率有 关，特殊原因出现的频率越高，抽样频 率需相应增加，此时，应重新调整控制 界限。 X R Chart 分析过程能力篇 计算过程实际能力指数 CPK ，（它 考虑了过程输出平均值的偏移） C P K X - LSL 3 σ ^ USL - X 3 σ ^ = σ ^ 最小值 其 中 R /d 2 计算产品性能指数 PPK X - LSL Ｐ PK 3 σ ^ 3 σ Ｓ ^ Ｓ 式中 σ Ｓ = USL - X 最小值 ^ ∑ i=1 n （ X i X ） 2 n- 1 对能力分析的解释 …… 结 果 CPK 指数＞ 1.67 1.33 ≤ 指数 ≤ 1.67 说 明 满足客户要求 , 可按控制 计划执行生产 . 目前可接受 , 但仍须改进 . 该过程目前不能满足客 户要求 , 仍须改进 . 指数＜ 1.33 注 : 提交 PPAP 时的 PPK ＞ 1.67 客户可接受 计数型 ) ( 计数值控制图用来控制不可以用计 量数据度量的特性，通常而言，用 于合格与不合格，通过与未通过， 良品与不良品等。 P-Chart 不合格率图 ( 计数型 ) 不合格 品率 P 不合 格品 数 np n 被检项 目的数 量 计算过程平均不合格品率 ( 中心线 ) 多个子组不合格 品率总和 CL = P np1+ np2 +np3+……+ np K n1+ n2+ ……+ nK 多个子组数总和 控制上限 UCL P+ 3 P- 3 P (1-P) P (1-P) n LCL 控制下限 n 样本均 值 P 控制图数据表 组别 1 n 100 d 3 p 0.03 组别 15 n 100 d 2 p 0.02 2 3 4 5 6 7 8 100 100 100 100 100 100 100 4 3 8 5 5 7 5 0.04 0.03 0.08 0.05 0.05 0.07 0.05 16 17 18 19 20 21 22 100 100 100 100 100 100 100 3 6 2 7 5 5 8 0.03 0.06 0.02 0.07 0.05 0.05 0.08 9 10 11 12 13 14 100 100 100 100 100 100 5 6 3 6 8 5 0.05 0.06 0.03 0.06 0.08 0.05 23 24 25 合计 平均 100 100 100 2500 100 4 5 4 125 0.04 0.05 0.04 0.05 分析 P 控制图 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 超出控制上限 Upper Control Limit (UCL) Center Line (CL) Lower Control Limit (LCL) 超出控制下限 数据点超出 P 控制图 上下限的可能原因 : 控制界限计算错误 描点错误 测量系统变化 过程不合格率上升 上述原因中，只有最后 原因是与过程能力相关 的变化特殊原因 , 其余均 为人为错误造成 X-R 图常数表 n D4 2 3.27 3 2.57 4 2.28 5 2.11 6 2.00 7 1.92 8 1.86 9 1.82 10 1.78 D3 0.08 0.14 0.18 0.22 A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37 0.34 0.31 将计算结果绘于 R Chart X X UCL CL LCL UCL CL LCL R 日期 1 2 3 4 和 X 8/5 0.23 0.20 0.24 0.19 0.86 0.22 9/5 0.22 0.21 0.18 0.24 0.85 0.21 10/5 0.19 0.21 0.22 0.21 0.83 0.20 …… 均值 极差 R 0.05 0.06 0.03 管制圖 — 范例 X-R管制圖 產品名稱 版 本 品質特性 測量單位 日 期 時 間 X1 樣本 X2 測定 X3 X4 值 X5 ΣX X R PCI SLOT 金手指鍍金厚度 mm / / / 2.85 3.33 3.89 3.24 2.94 16.25 規 格 最 大 值 7.24 平 均 值 4.61 最 小 值 2.85 / / / / 3.27 3.32 3.57 3.25 3.39 16.80 / 5.36 4.55 4.87 6.17 3.83 24.78 管 制 圖 上 限 中 心 線 下 限 / / 4.46 5.47 4.10 4