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统计过程控制（SPC） zen 要点 1、理解质量控制、过程控制和统计过程控制的关系 2、过程能力和过程能力指数，学会如何计算 3、影响过程能力指数的主要因素 4、过程能力指数和不合格率之间的关系 5、利用过程分析方法解决过程控制中的实际问题 6、控制图 质量控制的三个内容 1、识别并确定过程，以做到及时发现和排除产品实现过程中的变异，使上（过程）工序的问题不带到下一（过程）工序中去，以保证过程的稳定性和产品质量的一致性，这是一项预防性工作，简称过程控制。 2、按规定的检验方案，对过程和产品（包括原材料、半成品）进行检验，使检验合格的产品保持一定的质量水平。这是一项验收、鉴定性工作。 3、通过质量审核、管理评审、过程控制、产品检验以及顾客反馈等提供的信息，研究分析＆改进过程，并最终使交付的产品能持续满足顾客的要求。这是一项改进性工作，简称过程改进。 质量控制的重点：过程控制 1、过程是一组输入转化为输出的相互关联或作用的活动； 2、过程方法的重点是对每一过程实施有效的控制，并基于对过程的测量＆分析，使过程得到持续改善。 统计过程控制 1、用统计技术进行过程控制，称统计过程控制，简称SPC（STATUSTICAL PROCESS CONCTROL) 2、 1924年，美国贝尔电话实验室的休哈特首创。 統計基本概念的理解 散布的計算 S(總變動：Total Sum of Squares):偏差平方和 無偏方差(Unbiased Variance):S除以自由度（n-1） 無偏方差的開方or標準偏差 統計基本概念的理解 區分 參數 統計量 均值(Mean) 均值：μ 樣本均值： 方差 (Variance) 偏差 (Deviation) 統計基本概念的理解 可以說明擁有高Sigma值的工序，具備不良率低的工序能力 Sigma值越大品質費用越少，周期越短。 統計基本概念的理解 正態分布：N（60，52） 標準正態分布：N（0，12） 70分的情況下Z-值是 假如規格上限是75分的話，現在的工序能力是Z=2或是2σ。 Z值是已測定的標準偏差（σ）有幾個能进入平均值到规格上下界限（USL，LSL）之间的测定值。 需要什麼樣的管理？需要什麼樣的技術 短期的工序能力 長期的工序能力 判斷為短期內工序沒有外部影響 判斷為充分長時期內工序有外部影響 Zst（σst） Zlt（ σ lt ） Cp Cpk 技術 技術+工序管理 最佳條件下的工序能力 日常條件下的工序能力 6 σ： Zst=6.0，Cp=2.0 6 σ：Zlt=4.5，Cpk=1.5 Zst=3×Cp Zlt=3 ×Cpk 長期內的工序能力因工序的中心移動及變動，跟ZltZst關系有關 Zshift=Zst-Zlt Zst=Zlt+1.5 6 sigma的品質水準是什麼？ 正態分布的平偏移（±1.5 σ） 按規格變化和平均值偏移的不良率 規格關系 無偏移時不良率 （理想的工序時） ±1.5σ偏移時不良率 ±1σ 317,000 697,700 ±2σ 45,500 308,700 ±3σ 2,700 66,810 ±4σ 63 6,210 ±5σ 0.57 233 ±6σ 0.002 3.4 6Sigma品質是每百萬個中3.4PPM，即Cp=2.0，Cpk=1.5 工序能力 工序能力的數學式 兩側有規格的工序能力 SL SU 工序能力 有偏移時的工序能力 SL SU K M 工序能力 用語解釋 K：偏移系數（如果K=0，Cp=Cpk） M（Mid-range）：規格的中心 T（Tolerancne）：公差 SU（Upper Spec）：規格上限 SL（Lower Spec）：規格下限 工序能力 只有規格上限時的工序能力 SU 工序能力 只有規格下限時的工序能力 过程潜力指数: …是规范范围与6倍的所测量的过程标准偏差的比值. …反映过程离散情况. 当过程处于用标准控制图所定义的统计控制状态时, 使用Cp. 能力 = 3 x Cp 当过程没有处于用标准控制图所定义的统计控制状态时, 使用Pp. 四、CPK与PPK之间关系 实际过程表现指数 : …是过程平均值和靠近的规范极限之差的绝对值与3倍的所测量的过程标准偏差的比值. …反映过程中心偏移和离散问题. 客户要求的产品 我们生产的产品 LSL USL 目标值 CPK = Min {CPL, CPU} CPL = X-LSL 3P CPU = USL-X 3P PPL = X-LSL 3T PPU = USL-X 3T PPK = M