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.专业整理 . 实验报告 系 级 日期 No. 评分： 实验题目： γ能谱及γ射线的吸收 实验目的： 学习闪烁γ谱仪的工作原理和实验方法，研究吸收片对γ射线的吸收规律 实验原理： γ 能谱的形状 闪烁 γ 能谱仪可测得 γ 能谱的形状， 下图所示是典型 137Cs 的 γ 射线能谱图。 图的纵轴代表单位时间的脉 冲数目即射线强度，横轴代表脉冲幅度即反映粒子的能量值。 从能谱图上看，有几个较为明显的峰，光电峰 Ee ，又称全能峰，其能量就对应 γ 射线的能量 E 。这是由 于 γ 射线进入闪烁体后，由于光电效应产生光电子，能量关系见式（ 1），如果闪烁体大小合适，光电子停留在 其中，可使光电子的全部能量被闪烁体吸收。光电子逸出原子会留下空位，必然有外壳层上的电子跃入填充，同 时放出能量 Ez Bi 的 X 射线，一般来说，闪烁体对低能Ｘ射线有很强的吸收作用， 这样闪烁体就吸收了 Ee E z 的全部能量，所以光电峰的能量就代表 γ 射线的能量，对 137 Cs ，此能量为 0.661 Ｍ eＶ。 EC 即为康普顿边界，对应反冲电子的最大能量。 背散射峰 Eb 是由射线与闪烁体屏蔽层等物质发生反向散射后进入闪烁体，形成的光电峰，一般峰很小。 2．谱仪的能量刻度和分辨率 （1）谱仪的能量刻度 闪烁谱仪测得的 γ 射线能谱的形状及其各峰对应的能量值由核素的蜕变纲图所决定， 是各核素的特征反映。 . 学习帮手 . .专业整理 . 但测得的光电峰所对应的脉冲幅度（即峰值在横轴上所处的位置）是与工作条件有关系的。如光电倍增管高压改 变、线性放大器放大倍数不同等，都会改变各峰位在横轴上的位置，也即改变了能量轴的刻度。因此，应用 γ 谱仪测定未知射线能谱时，必须先用已知能量的核素能谱来标定谱仪的能量刻度， 即给出每道所对应的能量增值 Ｅ。例如选择 137Cs 的光电峰 E ＝ 0.661 Ｍ eＶ和 60 Co的光电峰 E 1 1.17MeV 、 E 2 1.33MeV 等能量值， 先分别测量两核素的 γ 能谱，得到光电峰所对应的多道分析器上的道址（若不用多道分析器，可给出各峰位所 为应的单道分析器上的阈值） 。可以认为能量与峰值脉冲的幅度是线性的，因此根据已知能量值，就可以计算出 多道分析器的能量刻度值Ｅ。如果对应 E1 0.661MeV 的光电峰位于Ａ道，对应 E2 1.17MeV 的光电峰位 于Ｂ道，则有能量刻度 e 1.17 0.661MeV （ 1） B A 测得未知光电峰对应的道址再乘以 e 值即为其能量值。 2）谱仪分辨率 能谱仪的一个重要指标是能量分辨率。由于闪烁谱仪测量粒子能量过程中，伴随着一系列统计涨落因素，如 γ 光子进入闪烁体损失能量、产生荧光光子、荧光光子进入光电倍增管后，在阴极上打出光电子、光电子在 倍增极上逐级打出光电子而使数目倍增， 最后在阳极上形成电流脉冲等， 脉冲的高度是服从统计规律而有一定分 布的。光电峰的宽窄反映着谱仪对能量分辨的能力。如图 2.2.1-7 中所示的光电峰的描绘，定义谱仪能量分辨率 为 半高度 V 100% （ 2） 光电峰脉冲幅度 V 表示闪烁谱仪在测量能量时能够分辨两条靠近的谱线的本领。 目前一般的闪烁谱仪分辨率在 10%左右。对 的影响因素很多，如闪烁体、光电倍增管等等。 物质对 γ 射线的吸收 当 γ 射线穿过物质时，一旦与物质中的原子发生三种相互作用，原来的光子就消失或通过散射改变入射方 . 学习帮手 . .专业整理 . 向。通常把通过物质且未经相互作用的光子所组成的射线称为窄束 γ 射线（或良好几何条件下的射线束） 。实验 表明，单能窄束 γ 射线的衰减遵循指数规律： （ 8） 其中 、 分别是通过物质前、后的 γ 射线强度，在本实验中可用全能峰的峰面积表示， 是 γ 射线通过物质的 厚度， 是三种作用截面之和， N 是吸收物质单位体积的原子数， 是物质的线性吸收系数，表示单位路程上 γ 射线与物质发生三种相互作用的总几率，其大小反映了物质吸收 γ 射线能力的大小。 可见，如果在半对数坐标图上绘制吸收曲线，那么这条曲线就是一条直线，直线的斜率的绝对值就是线性 吸收系数 。 γ 射线强度减弱一半所需的吸收层厚度称为半吸收厚度 d1 ，从（ 8）式可知： 2 d 12 ln 2 0.693 （ 9） 实验容： １． 熟悉仪器，开启高压电源，预热 20 分钟； ２． 用多道分析器测量并观察 137 Cs 和 60Co 的 γ 能谱的形状，截取能谱图，在图上指出光电峰、康普 顿边界、电子对峰、背散射峰等峰位； ３． 137Cs 的光电峰对应能量为 0.661MeV， 60 Co的左侧光电峰能量为 1.17MeV，请对谱仪进行能量刻度、 作图，并测量 60