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通用运算放大器主要参数测试方法说明 1. 运算放大器测试方法基本原理 采用由辅助放大器（ A）与被测器件（ DUT）构成闭合环路的方法进行测试， 基本测试原理图如图 1 所示。 图 1 辅助放大器应满足下列要求： (1) 开环增益大于 60dB； (2) 输入失调电流和输入偏置电流应很小； (3) 动态范围足够大。 环路元件满足下列要求： (1) 满足下列表达式 Ri ·Ib＜Vos R＜Rid R ·Ib ＞Vos Ros＜Rf＜Rid R1＝R2 R1＞RL 式中： Ib： 被测器件的输入偏置电流； Vos：被测器件的输入失调电压； Rid：被测器件的开环差模输入电阻； Ros：辅助放大器的开环输出电阻； (2) Rf/ Ri值决定了测试精度，但须保证辅助放大器在线性区工作。 2. 运算放大器测试适配器 SP-3160Ⅲ 数/ 模混合集成电路测试系统提供的运算放大器测试适配器便是 根据上述基本原理设计而成。 它由运放测试适配板及一系列测试适配卡组成， 可 以完成通用单运放、双运放、 四运放及电压比较器的测试。 运算放大器适配器原 理图如附图所示。 3 ．测试参数 以 OP-77G为例，通用运算放大器主要技术规范见下表。 3.1 参数名称： 输入失调电压 Vos (Input Offset Voltage)。 3.1.1 参数定义： 使输出电压为零（或规定值）时，两输入端间所加的直流补偿 电压。 3.1.2 测试方法 : 测试原理如图 2 所示。 图 2 (1) 在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中； (2) 电源端施加规定的电压； (3) 开关“ K4”置地（或规定的参考电压） ； (4) 在辅助放大器 A 的输出端测得电压 Vlo ； (5) 计算公式： Vos=(Ri/(Ri+Rf))*VLo 。 3.1.3 编程举例： （测试对象：OP-77G, 测试系统： SP3160） 测试名称 :vos 测量方式 :Vos Bias 1=-15.000 V Clamp1=-10.000mA Bias 2=15.000 V Clamp2=10.000mA 测量高限 =0.0001 V 测量低限 =____ V 测量延迟 :50mS 箝位延迟 :50mS SKon=[0,4,11,12,13,19,23,27] 电压基准源 2 电压=0V 电压基准源 2 量程 +/-2.5V 电压基准源 3 电压=0V 电压基准源 3 量程 +/-2.5V 测试通道 TP1 测量单元 DCV DCV量 程 :+/-2V 3.2 参数名称： 输入失调电流 Ios (Input Offset Current)。 3.2.1 参数定义： 使输出电压为零（或规定值）时，流入两输入端的电流之差。 3.2.2 测试方法： 测试原理如图 3 所示。 图 3 (1)在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中； (2) 电源端施加规定的电压； (3) 开关 K4置“地” （