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试卷 1 通用寄存器考 试 （本题需要搭接 线） 题 目：分别向 CX， DX 写入两个数，并读出 一、考试原理 考试中所用的通用寄存器数据通路如下 图所示。由四片 8 位字长 的 74LS574 组成 CX （R1 R0）、DX （R3 R2）通用寄存器 组。 图 中 X2 X1 X0 定义输出选通使能， SI、XP 控制位 为源选通选择。RXW 为寄存 器数据写入使能， OP、DI 为 目的寄存器 选择。DRCK 信号为寄存器写 脉冲，下降沿有效。准双向 I/O 输入输出端口用于置数操作， 经 2 片 74LS245 三态门与数据 总线 相连。 1 图 2-3-3 通用寄存器数据通路 2 二、考试内容 1. 考试连线 连 信 线 号孔 D 1 RCK 接 入孔 CL OCK 源 作用 单元手动考试状态的时钟来 有效 电平 下降 沿打入 K6 总线 字长：1=16 位字操作， 2 W 3 X2 4 X1 5 X0 6 SI 7 XP 8 RXW 9 DI 10 OP (M6) 0=8 位字节操作 K10(M10) 源部件定义译码端 X2 K9(M9) 源部件定义译码端 X1 K8(M8) 源部件定义译码端 X0 K19(M19) 源寄存器编址： 1=CX， 0=DX ，定义到 M19 K7(M7) 源寄存器奇偶位： 1=偶寻址， 0=奇寻址 K18(M18) 寄存器写使能，本例定义到 M18 位 K17(K17) 目标寄存器编址： 1=CX， 0=DX ，定义到 M17 K16(M16) 目标寄存器奇偶位： 1=偶寻址， 0=奇寻址 三八译码 八中选一 高电平有效 2. 寄存器的读写操作 ① 目的通路 当 RXW=1 时，由 DI、 OP 编码产生目的寄存器地址，详见下表。 表 2.3.5 通用寄存器“手动／搭接”目的编码 目标使能 RXW 1 1 1 1 1 1 通用寄存器目的编址 DI OP W DRCK 1 1 1 ↓ 1 1 0 ↓ 1 0 X ↓ 0 1 1 ↓ 0 1 0 ↓ 0 0 X ↓ 功能说明 CX 字写 CL(R0) 偶字节写 CH(R1) 奇字节写 DX 字写 DL(R2) 偶字节写 DH(R2) 奇字节写 表 2.3.6 源与目的寻址编码表 3 SI1 SI 1 1 1 0 1 1 1 0 0 X 1 1 总线源编码 M10 M9 M8 X2 X1 X0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 功能 禁止 ALU SP IOR MRD XRD RRD PC 在线态目的编码 M19 O2 0 0 0 0 1 1 1 1 M18 O1 0 0 1 1 0 0 1 1 M17 O0 0 1 0 1 0 1 0 1 功能 禁止 MAR BX AX SP IOW XWR RWR ② CX、 DX 寄存器的写入 通过“ I/O 输入输出单元”向 CX、 DX 分别置数 1122h、 3344h，操作步骤如下： ③ 源通路 当 X2 X1 X0=1 1 0 时，由 SI、 XP 编码产生源寄存器，详见下表。 表 2.3.7 源使能 X2 X1 X0 1 1 0 通用寄存器“手动／搭接”源编码 通用寄存器源编址 功能说明 XP W CX 字读 CL(R0) 偶字节读 CH(R1) 奇字节读 DX 字读 0 0 1 0 0 DL(R2) 偶字节读 X DH(R2) 奇字节读 ④ CX、 DX 寄存器的读出 关闭 CX、 DX 写使能，令 RXW(K18)=0 ，按下流程分别读 CX、