半导体三极管β值范围测量仪设计.docxVIP

半导体三极管B值范围测量仪设计 一、 设计题目与主要技术指标 1、 设计题目 半导体三极管B值范围测量仪 2、 主要技术指标 对被测NPN型三极管B值分五档； B值的范围分别为小于 50、50~80、80~120、120~180 180以上，对对应分档编 号分别是0、1、2、3、4; 用数码管显示B值档位； 二、 系统组成框图 设计制作一个测量三极管直流放大系数 B值范围的测量仪装置。B值的测量分档 电路可以由B -V转换电路、编码电路、三极管译码电路、显示电路组成。 经过查阅书籍和相关资料，还有设计要求上的提示方案，对设计有如下简单分析： 设计电路测量三极管的B值，将三极管B值转换为其他可用仪器测量的物理量来进行测 量(如电压，根据三极管电流ic=B Ib的关系，当Ib为固定值时，ic反映了 B的变化， 电阻R上的电压Vrc又反映了 Ic的变化)。因为题目要求分五档显示三极管的B值(即一： 值的范围分别为小于50、50?80、80?120及120?180、大于180,对应的分档编号分 别是0、1、2、3、4)，所以对转换后的物理量进行采样,将取样信号同时加到具有不同 基准电压的比较电路输入端进行比较， 相应的一个比较电路输出高电平，其余比较器输 出为低电平，实现AD转换。比较后再进行分档显示。要实现分档显示，则必须对比较 器输出的高电平进行二进制编码和显示译码器译码， 驱动数码管显示出相应的B值档次 代号。从而实现该档次代号的显示。系统框图如下图(1)所示： 基准电压 三、单元电路设计与分析 1、转换电路： 用于把不能直接用仪器测量的 NPN型三极管B值转换成可以直接被测量的集电极电 压，再把电压采样放大，为下一级电压比较电路提供采样电压， 其中包括提供恒定电流 的微电流源电路和起放大隔离的差动放大电路。 将变化的三极管B值转化为与之成正比 变化的电压量，再取样进行比较、分档。上述转换过程可由以下方案实现： 根据三极管 电流IC=B IB的关系，当IB为固定值时，IC反映了 B的变化，电阻RC上的电压VRC 又反映了 IC的变化，对VRC取样加入后级进行分档比较。 当Rb固定时，I b=(Vee-Vbe)/R b为固定值， 贝U I C=B I b=B (Vee-Vbe)/R b Vo=IcR=B (Vee-Vbe)R/Rb 当VEe、Rb、R选定时，V°*B ,这样实现 B -V转换电路。注意，在设置电阻阻值 时应使晶体管和运算放大器均工作于线 s? s? 如右图(2) B -V转换电路 2、比较电路 B -V转换电路在B值为50.80.12.180时的输出电压值，将这些值作为电压比较 器的基准电压 *efi,Vref?VREF3VREF*四个基准电压可以用直流电源电阻分压构成。当被测 三极管的在不同档次范围时，电压比较电路的输出代码见下表： 电压比较电路输出代码表 P V4 V3 V2 V1 P50 0 0 0 0 0 50vB8 0 0 0 1 20 80Pv1 0 0 1 1 120pv 0 1 1 1 180 P180 1 1 1 1 基准电压：由于题目要求将一：值的档次分为50?80、80?120及120?180,对应 的分档编号分别是1、2、3,则需要多个不同的基准电压，基准电压是采用一个串联的 电阻网络对一个固定的电压进行分压得到的。运放采用 LM324内部有 四个运放构成，引脚如（3）下： （2）差动放大电路介绍： 根据三极管电流lc=B IB的关系，被测物理量B转换成集电极电流IC而集电极电阻 不变，利用差动放大电路对被测三极管集电极上的电压进行采样， 。差动放大电路原理 如图（7）所示： 采用集成电路LM741 LM741采用单电源供电，其内部只由 4个运算放大器构成。 比较电路主要由741构成，转换电路输出的电压 U0通过741分别与U, U2, U, U进行 比较，并输出相应的高电平或低电平：比较器的 N端和前转换电路的转换电压Ub相接, 而P端则接由两个电阻分压决定的基准电压， 这两个电压进行比较，从而在输出端可输 出。比较得出的高低电平。当U0大于基准电平，则输出低电平，即输出0;否则输出1。 在实验中，4个741由一个LM324代替：其中LM324的结构图如图（5）所示： LM 324AD LM 324AD 14 13 12 11 10 9 6 1 2 3 4 5 G 7 图（5） LM324结构图 2、6、9、13为反相输入，3、5、10、12为同相输入，1、7、8 14为输出，4接 + 5V, 11 接-5V。 C反相编入请）Vo C反相编入请） Vo 图（6） LM324内部运算放大器 LM324是四运放集成电路，它采用14脚双列直插塑料封装，外形如图（5）所示。 它的内部包含四组形式